| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 前言 | 第10-11页 |
| 1 文献综述 | 第11-27页 |
| 1.1 钛硅分子筛TS-1的合成研究 | 第11-18页 |
| 1.1.1 水热合成方法 | 第13-17页 |
| 1.1.2 气固相同晶取代 | 第17页 |
| 1.1.3 其他合成方法 | 第17-18页 |
| 1.2 钛硅分子筛TS-1的合成机理 | 第18-19页 |
| 1.2.1 宏观机理 | 第18-19页 |
| 1.2.2 微观机理 | 第19页 |
| 1.3 影响钛硅分子筛粒径的因素 | 第19-21页 |
| 1.4 表征方法 | 第21-25页 |
| 1.4.1 X射线粉末衍射(XRD) | 第21-22页 |
| 1.4.2 傅里叶红外变换光谱(FT-IR) | 第22-23页 |
| 1.4.3 紫外可见漫反射光谱(UV-Vis) | 第23页 |
| 1.4.4 紫外拉曼光谱(Raman) | 第23-24页 |
| 1.4.5 扫描电子显微镜(SEM) | 第24页 |
| 1.4.6 N_2吸附性能测试 | 第24-25页 |
| 1.5 钛硅分子筛的应用 | 第25-26页 |
| 1.5.1 烯烃的环氧化反应 | 第25-26页 |
| 1.5.2 苯酚羟基化反应 | 第26页 |
| 1.6 选题依据 | 第26-27页 |
| 2 实验部分 | 第27-32页 |
| 2.1 实验原料和设备 | 第27-29页 |
| 2.1.1 实验原料 | 第27页 |
| 2.1.2 实验设备和分析仪器 | 第27-29页 |
| 2.2 实验方法 | 第29-30页 |
| 2.2.1 微米级TS-1的合成 | 第29页 |
| 2.2.2 纳米级TS-1的合成 | 第29-30页 |
| 2.3 表征及性能测试 | 第30-32页 |
| 2.3.1 X-射线粉末衍射分析(XRD) | 第30页 |
| 2.3.2 傅立叶变换红外光谱分析(FT-IR) | 第30页 |
| 2.3.3 紫外可见漫反射光谱分析(UV-Vis) | 第30页 |
| 2.3.4 紫外拉曼光谱(UV-Raman) | 第30页 |
| 2.3.5 扫描电镜分析(SEM) | 第30-31页 |
| 2.3.6 比表面积测定 | 第31-32页 |
| 3 实验结果与讨论 | 第32-52页 |
| 3.1 合成不同粒径的TS-1的表征 | 第32-38页 |
| 3.2 对微米级TS-1形貌的影响因素的研究 | 第38-43页 |
| 3.2.1 TPAOH对TS-1形貌大小的影响 | 第38-39页 |
| 3.2.2 络合剂对TS-1形貌的影响 | 第39-40页 |
| 3.2.3 乙胺对TS-1粒径的影响 | 第40-41页 |
| 3.2.4 硅源对TS-1粒径的影响 | 第41-42页 |
| 3.2.5 加料顺序对粒径的影响 | 第42-43页 |
| 3.3 对微米级TS-1骨架钛含量的影响因素 | 第43-45页 |
| 3.3.1 硅钛比和络合剂对TS-1骨架钛的影响 | 第43-44页 |
| 3.3.2 TPAOH对TS-1骨架钛的影响 | 第44页 |
| 3.3.3 乙胺对TS-1骨架钛的影响 | 第44-45页 |
| 3.4 不同母液的量的对纳米级TS-1的影响 | 第45-50页 |
| 3.5 晶化时间对纳米级TS-1粒径的影响 | 第50-51页 |
| 3.6 本章小结 | 第51-52页 |
| 4 纳米TS-1的放大合成 | 第52-59页 |
| 4.1 实验原料 | 第52-53页 |
| 4.1.1 原料名称、规格及生产厂家 | 第52-53页 |
| 4.1.2 实验设备 | 第53页 |
| 4.2 实验方法 | 第53页 |
| 4.3 产物表征 | 第53-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |