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VO2薄膜的制备及其光特性研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第一章 绪论第11-27页
    1.1 引言第11-12页
    1.2 VO_2的基本性质第12-14页
        1.2.1 VO_2的晶体结构第12-14页
        1.2.2 VO_2的能带结构第14页
    1.3 VO_2薄膜的相变特性第14-17页
        1.3.1 光学透射率的变化第14-15页
        1.3.2 相变的可逆性和超快性第15-16页
        1.3.3 诱导VO_2相变的方式第16-17页
    1.4 VO_2薄膜的应用领域第17-21页
    1.5 VO_2薄膜的制备方法第21-26页
        1.5.1 真空蒸镀法第21-22页
        1.5.2 溅射法第22页
        1.5.3 化学气相沉积法(CVD法)第22-23页
        1.5.4 溶胶凝胶法第23-25页
        1.5.5 常见VO_2薄膜制备方法的比较第25-26页
    1.6 本课题研究内容及意义第26页
    1.7 本章小结第26-27页
第二章 溶胶凝胶法制备纳米晶VO_2薄膜及其性能测试第27-51页
    2.1 VO_2纳米晶薄膜的制备工艺第27-33页
        2.1.1 原材料第27-28页
        2.1.2 实验设备第28-29页
        2.1.3 单层VO_2薄膜的制备第29-32页
            2.1.3.1 乙酰丙酮钒前驱溶液的制备第29页
            2.1.3.2 Al_O_3衬底的清洗第29-30页
            2.1.3.3 Cr膜缓冲层的蒸镀第30页
            2.1.3.4 前驱溶液的匀胶第30-31页
            2.1.3.5 退火形成纳米晶VO_2薄膜第31-32页
        2.1.4 不同厚度纳米晶VO_2薄膜的制备第32-33页
    2.2 相关测试方法第33-35页
    2.3 纳米晶VO_2薄膜样品测试分析第35-50页
        2.3.1 缓冲层Cr膜对制备纳米晶VO_2薄膜的影响第35-37页
        2.3.2 匀胶转速对纳米晶VO_2薄膜的影响第37-38页
        2.3.3 退火时间对薄膜特性的影响第38-42页
            2.3.3.1 退火时间对薄膜表面及厚度的影响第39-40页
            2.3.3.2 退火时间对薄膜晶体结构的影响第40-41页
            2.3.3.3 退火时间对薄膜相变特性的影响第41-42页
        2.3.4 退火温度对薄膜特性的影响第42-47页
            2.3.4.1 退火温度对薄膜表面特性及厚度的影响第42-45页
            2.3.4.2 退火温度对薄膜晶体结构的影响第45页
            2.3.4.3 退火温度对薄膜相变特性的影响第45-47页
        2.3.5 不同厚度纳米晶VO_2薄膜性能分析第47-50页
            2.3.5.1 两次匀胶所制得VO_2薄膜性能分析第47-48页
            2.3.5.2 六次匀胶所制得VO_2薄膜的性能分析第48-50页
    2.4 本章小结第50-51页
第三章 纳米晶VO_2薄膜的热致相变特性应用第51-57页
    3.1 样品的制备第51-53页
        3.1.1 银纳米立方体的制备第51-53页
            3.1.1.1 水热合成法制备银纳米立方体第51-52页
            3.1.1.2 Ag纳米立方体的表征第52-53页
        3.1.2 VO_2薄膜和银纳米立方体双功能传感器第53页
    3.2 VO_2薄膜和银纳米立方体双功能传感器功能测试第53-56页
        3.2.2 双功能传感器相关物理特性测试第53-54页
        3.2.3 双功能传感器探测荧光及拉曼信号第54-56页
    3.3 本章小结第56-57页
第四章 总结与展望第57-59页
    4.1 论文的主要工作第57-58页
    4.2 下一步工作计划第58-59页
致谢第59-60页
参考文献第60-64页
攻读硕士学位期间发表的论文第64页

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