TD-LTE发射机射频自动测试系统
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·选题的意义 | 第9-10页 |
| ·TD-LTE关键技术 | 第10-12页 |
| ·OFDM技术 | 第10-11页 |
| ·MIMO技术 | 第11-12页 |
| ·自动测试系统发展历程 | 第12-14页 |
| ·本文作者所做主要工作 | 第14页 |
| ·论文结构与主要内容 | 第14-17页 |
| 第二章 测试系统相关技术 | 第17-23页 |
| ·GPIB | 第17-18页 |
| ·SCPI标准命令集 | 第18-20页 |
| ·SCPI的概念 | 第18页 |
| ·SCPI特点 | 第18-19页 |
| ·SCPI的格式 | 第19-20页 |
| ·VISA函数库 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 发射机射频特性测试 | 第23-51页 |
| ·测试相关参数介绍 | 第23-27页 |
| ·帧结构 | 第23-24页 |
| ·资源格 | 第24-26页 |
| ·TD-LTE工作频段 | 第26页 |
| ·频道号与频率 | 第26-27页 |
| ·射频测试项及测试方法简介 | 第27-49页 |
| ·发射功率 | 第27-28页 |
| ·发射关断功率 | 第28-30页 |
| ·发射开关时间模板 | 第30-31页 |
| ·总功率动态范围 | 第31-34页 |
| ·频率误差 | 第34-35页 |
| ·矢量幅度误差(EVM) | 第35-38页 |
| ·发射通道间的定时误差 | 第38-39页 |
| ·下行参考符号功率 | 第39-40页 |
| ·相邻RB的参考功率 | 第40-42页 |
| ·占用带宽 | 第42-43页 |
| ·邻道功率泄漏比 | 第43-45页 |
| ·杂散发射通用指标 | 第45-47页 |
| ·杂散发射共址指标 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 系统软硬件设计 | 第51-69页 |
| ·软件功能设计 | 第52-53页 |
| ·软件结构设计 | 第53-55页 |
| ·用户控制界面 | 第54页 |
| ·底层控制仪表函数模块 | 第54页 |
| ·控制自动测试流程模块 | 第54-55页 |
| ·数据存储模块 | 第55页 |
| ·Word互操作模块 | 第55页 |
| ·历史记录查看模块 | 第55页 |
| ·存储设计 | 第55-57页 |
| ·测试结果存储文件设计 | 第55-56页 |
| ·测试函数项目参数设计 | 第56页 |
| ·测试方案保存文件设计 | 第56-57页 |
| ·测试限值信息文件设计 | 第57页 |
| ·测试函数设计与实现 | 第57-59页 |
| ·测试软件介绍 | 第59-62页 |
| ·与已有测试系统的比对分析 | 第62-63页 |
| ·射频切换箱设计方案 | 第63-67页 |
| ·射频切换箱外部接口设计 | 第63-64页 |
| ·射频切换箱测试链路设计 | 第64-67页 |
| ·系统整体设计方案 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-69页 |
| 第五章 系统不确定度 | 第69-79页 |
| ·不确定度的概念和意义 | 第69页 |
| ·射频测试不确定度的分类 | 第69-73页 |
| ·A类不确定度 | 第70-71页 |
| ·B类不确定度 | 第71-72页 |
| ·合成标准不确定度 | 第72-73页 |
| ·不确定度数学模型构建 | 第73-74页 |
| ·功率测试相关不确定度模型 | 第74页 |
| ·频率测试相关不确定度模型 | 第74页 |
| ·典型测试项目不确定度分析 | 第74-78页 |
| ·发射功率不确定度分析 | 第75-77页 |
| ·载波频率容限不确定度分析 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 第六章 总结与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
