| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-13页 |
| 第一章 前言 | 第13-22页 |
| ·RFID技术研究背景 | 第13-14页 |
| ·RFID技术发展状况和前景 | 第14-19页 |
| ·国外RFID技术发展现状 | 第15-17页 |
| ·国内RFID技术发展现状 | 第17-18页 |
| ·RFID技术的发展前景 | 第18-19页 |
| ·RFID技术应用 | 第19-20页 |
| ·本论文的研究内容和贡献 | 第20页 |
| ·本论文的组织结构 | 第20-22页 |
| 第二章 RFID技术基本原理及标准介绍 | 第22-29页 |
| ·RFID系统的组成和分类 | 第22-24页 |
| ·RFID系统基本原理和标签芯片系统架构 | 第24-26页 |
| ·RFID系统的基本工作原理 | 第24-25页 |
| ·标签芯片系统架构 | 第25-26页 |
| ·ISO/IEC 18000-6标准简介 | 第26-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 标签芯片数字电路的关键技术研究 | 第29-39页 |
| ·CMOS电路功耗产生机理 | 第29-32页 |
| ·动态功耗 | 第29-31页 |
| ·静态功耗 | 第31-32页 |
| ·数字基带电路低功耗设计 | 第32-37页 |
| ·低功耗系统架构 | 第32-34页 |
| ·低功耗系统时钟设计 | 第34-36页 |
| ·优化状态编码 | 第36页 |
| ·数据并行处理 | 第36页 |
| ·逻辑资源复用 | 第36-37页 |
| ·标签存储器初始化操作 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 具有状态变化计数功能的标签芯片数字基带电路设计 | 第39-65页 |
| ·数字基带电路工作流程设计 | 第40-41页 |
| ·开关状态变化采集及计数电路设计 | 第41-45页 |
| ·开关状态变化采集电路 | 第41-43页 |
| ·状态变化信号抖动消除电路 | 第43-44页 |
| ·开关状态变化监测/计数电路 | 第44页 |
| ·状态变化计数值的安全性 | 第44-45页 |
| ·帧数据处理模块设计 | 第45-53页 |
| ·解码器模块设计 | 第45-48页 |
| ·编码器模块设计 | 第48-52页 |
| ·CRC校验/生成模块设计 | 第52-53页 |
| ·数据预处理模块设计 | 第53-56页 |
| ·输入预处理模块设计 | 第53-55页 |
| ·输出预处理模块设计 | 第55-56页 |
| ·状态机模块设计 | 第56-59页 |
| ·命令及状态分析 | 第56-58页 |
| ·状态机内部电路设计 | 第58-59页 |
| ·防碰撞模块设计 | 第59-61页 |
| ·时槽计数器设计 | 第59-60页 |
| ·伪随机数发生器设计 | 第60-61页 |
| ·时钟分频和复位模块设计 | 第61页 |
| ·存储器访问控制模块设计 | 第61-63页 |
| ·数字基带电路仿真及FPGA验证 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 版图设计与验证 | 第65-71页 |
| ·逻辑综合 | 第65-67页 |
| ·版图设计与验证 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 标签芯片测试 | 第71-77页 |
| ·测试技术方案 | 第71-72页 |
| ·测试内容 | 第72-73页 |
| ·测试结果 | 第73-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 第七章 总结与展望 | 第77-79页 |
| ·全文总结 | 第77页 |
| ·后续研究工作展望 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-83页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第83页 |