| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 图表目录 | 第12-15页 |
| 缩写与中英文对照 | 第15-17页 |
| 1 绪论 | 第17-41页 |
| ·研究背景及意义 | 第17-19页 |
| ·EHW概述 | 第19-26页 |
| ·进化算法 | 第19-21页 |
| ·可编程器件 | 第21-23页 |
| ·EHW原理及实现方式 | 第23-26页 |
| ·EHW的发展现状 | 第26-30页 |
| ·数字电路进化设计发展现状 | 第30-38页 |
| ·本文的主要工作 | 第38-41页 |
| 2 笛卡尔遗传规划原理 | 第41-51页 |
| ·引言 | 第41-42页 |
| ·电路表达模型及编码方法 | 第42-45页 |
| ·CGP中立性 | 第45-46页 |
| ·适应度评价方法及(1+λ)进化策略 | 第46-49页 |
| ·参数设置 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 3 常规门级电路进化设计 | 第51-68页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·基于适应度评价扩展的笛卡尔遗传规划算法 | 第51-55页 |
| ·基于适应度评价扩展自适应遗传算法的门级电路进化设计 | 第55-62页 |
| ·遗传算法 | 第55-57页 |
| ·遗传参数自适应策略 | 第57-58页 |
| ·算法流程 | 第58-59页 |
| ·实验 | 第59-62页 |
| ·基于扩展多染色体笛卡尔遗传规划的多输出门级电路进化设计 | 第62-66页 |
| ·多染色体表达 | 第62-63页 |
| ·多染色体进化策略 | 第63-64页 |
| ·实验 | 第64-66页 |
| ·本章小结 | 第66-68页 |
| 4 多态电路进化设计 | 第68-77页 |
| ·引言 | 第68-69页 |
| ·多态门 | 第69-71页 |
| ·基于动态评价方法的多态电路进化设计 | 第71-72页 |
| ·多态电路设计问题模型 | 第71页 |
| ·动态评价方法 | 第71-72页 |
| ·算法流程 | 第72页 |
| ·实验 | 第72-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 5 用于容错系统的自检电路进化设计 | 第77-102页 |
| ·引言 | 第77-79页 |
| ·自检电路设计问题模型 | 第79页 |
| ·基于输出匹配的多态自检电路进化设计 | 第79-87页 |
| ·输出匹配方法 | 第79-81页 |
| ·适应度评价方法及算法流程 | 第81页 |
| ·实验 | 第81-85页 |
| ·电路自检特性分析 | 第85-87页 |
| ·基于输入分解输出匹配的多态自检电路进化设计 | 第87-98页 |
| ·输入分解方法 | 第87-91页 |
| ·适应度评价方法及实现过程 | 第91-92页 |
| ·实验 | 第92-96页 |
| ·电路自检特性分析 | 第96-98页 |
| ·基于动态评价方法的多态自检电路进化设计 | 第98-100页 |
| ·实验 | 第98-99页 |
| ·电路自检特性分析 | 第99-100页 |
| ·本章小结 | 第100-102页 |
| 6 结论与展望 | 第102-105页 |
| 致谢 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-123页 |
| 附录 | 第123页 |