| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·星载固态存储器研究背景 | 第7-8页 |
| ·星载固态存储器国内外发展状况 | 第8-11页 |
| ·星载固态存储器国外发展状况 | 第8-9页 |
| ·星载固态存储器国内发展状况 | 第9-11页 |
| ·论文主要工作和章节安排 | 第11-13页 |
| ·论文的主要工作 | 第11页 |
| ·论文的创新之处 | 第11页 |
| ·章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 星载固态存储器技术综述 | 第13-23页 |
| ·NAND 型闪存技术 | 第13-18页 |
| ·性能介绍 | 第14页 |
| ·接口说明 | 第14-16页 |
| ·容量特性 | 第16页 |
| ·位翻转问题 | 第16页 |
| ·坏块管理问题 | 第16-17页 |
| ·软件驱动支持 | 第17-18页 |
| ·可靠性和寿命 | 第18页 |
| ·抗空间辐射效应影响技术 | 第18-20页 |
| ·空间辐射效应概况 | 第18页 |
| ·总剂量效应 | 第18-19页 |
| ·单粒子翻转效应 | 第19页 |
| ·空间辐射危害应对策略 | 第19-20页 |
| ·BIT 技术 | 第20-23页 |
| ·测试性设计技术 | 第20-21页 |
| ·BIT 技术发展 | 第21-23页 |
| 第三章 NAND FLASH 星载固态存储器数据存储单元设计 | 第23-51页 |
| ·硬件设计 | 第23-35页 |
| ·总线控制器和接口设计 | 第24-26页 |
| ·控制系统设计 | 第26-28页 |
| ·数据装载控制电路的设计 | 第28-30页 |
| ·自动读取控制电路的设计 | 第30-31页 |
| ·LVDS 通讯接口设计 | 第31-34页 |
| ·数据分析 | 第34-35页 |
| ·BIT 设计 | 第35-44页 |
| ·系统 BIT 组成 | 第35-37页 |
| ·关键性能监测功能的 BIT 设计 | 第37-41页 |
| ·故障检测与隔离的 BIT 设计 | 第41-44页 |
| ·软件设计 | 第44-51页 |
| ·接收总线数据 | 第45-46页 |
| ·接收数据存储设计 | 第46-47页 |
| ·存储数据发送设计 | 第47-49页 |
| ·数据存储区擦除设计 | 第49页 |
| ·FLASH 自检功能设计 | 第49页 |
| ·数据存储区坏块管理 | 第49-51页 |
| 第四章 数据存储单元仿真与验证 | 第51-57页 |
| ·样机产品 | 第51-52页 |
| ·设计仿真 | 第52-55页 |
| ·Flash 读时序仿真 | 第52页 |
| ·Flash 页编程时序仿真 | 第52-53页 |
| ·Flash 块擦除时序仿真 | 第53-54页 |
| ·LVDS 控制时序仿真 | 第54-55页 |
| ·测试验证 | 第55-57页 |
| 第五章 结束语 | 第57-59页 |
| ·工作总结 | 第57页 |
| ·下一步工作设想 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |