高导电性银粉导电胶的制备及低成本化研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
目录 | 第8-11页 |
第一章 绪论 | 第11-27页 |
·电子封装材料的发展 | 第11-13页 |
·锡铅焊料 | 第11-12页 |
·无铅合金焊料 | 第12-13页 |
·导电胶黏剂 | 第13页 |
·导电胶概述 | 第13-18页 |
·导电胶的组成 | 第13-16页 |
·导电胶的分类 | 第16-17页 |
·导电胶的应用及其局限 | 第17-18页 |
·导电胶的导电机理 | 第18-20页 |
·渗流理论 | 第19页 |
·导电团簇理论 | 第19页 |
·隧道效应理论 | 第19-20页 |
·电场发射理论 | 第20页 |
·低成本化趋势 | 第20-21页 |
·导电胶的研究进展 | 第21-25页 |
·国内外的研究概况 | 第21-22页 |
·导电胶电学性能的提高 | 第22-23页 |
·导电胶力学性能的提高 | 第23-25页 |
·研究背景、目的及意义 | 第25-27页 |
·研究背景 | 第25页 |
·研究目的 | 第25-26页 |
·研究意义 | 第26-27页 |
第二章 银粉导电胶的制备及其性能测试方法 | 第27-37页 |
·银粉导电胶的配方设计 | 第27-32页 |
·银粉导电胶各组分原料的选择 | 第27-31页 |
·导电胶基本配方的确定 | 第31-32页 |
·导电胶的配制过程 | 第32-34页 |
·实验用原材料 | 第32-33页 |
·实验用仪器设备 | 第33页 |
·银粉表面的处理 | 第33页 |
·导电胶的配料过程 | 第33-34页 |
·固化程序的确定 | 第34页 |
·测试手段和条件 | 第34-37页 |
·差示扫描量热分析(DSC) | 第34页 |
·红外光谱分析(FT-IR) | 第34页 |
·热重分析(TG) | 第34页 |
·体积电阻率的测定 | 第34-35页 |
·拉伸剪切强度的测定 | 第35-36页 |
·树脂基体固化收缩率的测定 | 第36页 |
·扫描电子显微镜(SEM)分析 | 第36-37页 |
第三章 银粉导电胶各组分对其性能影响研究 | 第37-61页 |
·导电胶固化程序的确定 | 第37页 |
·固化工艺对导电胶体积电阻率的影响 | 第37-39页 |
·固化温度对导电胶体积电阻率的影响 | 第37-38页 |
·固化时间对导电胶体积电阻率的影响 | 第38-39页 |
·固化工艺对导电胶拉伸剪切强度的影响 | 第39-41页 |
·固化温度对导电胶拉伸剪切强度的影响 | 第39-40页 |
·固化时间对导电胶拉伸剪切强度的影响 | 第40-41页 |
·固化剂对导电胶性能的影响 | 第41-43页 |
·基体树脂对导电胶性能的影响 | 第43-46页 |
·导电填料对导电胶体积电阻率的影响 | 第46-52页 |
·银粉的形貌对导电胶体积电阻率的影响 | 第46-48页 |
·银粉的粒径对导电胶体积电阻率的影响 | 第48页 |
·银粉的添加量对导电胶体积电阻率的影响 | 第48-49页 |
·银粉的混合方式对导电胶体积电阻率的影响 | 第49-50页 |
·处理前后的银粉对导电胶体积电阻率的影响 | 第50-52页 |
·添加剂对导电胶性能的影响 | 第52-56页 |
·偶联剂对导电胶性能的影响 | 第52-53页 |
·添加剂对导电胶性能的影响 | 第53-56页 |
·增韧剂对导电胶性能的影响 | 第56-59页 |
·ETBN 与 EP 混合相容性的影响因素 | 第56-57页 |
·不同添加比例的增韧剂对导电胶性能的影响 | 第57-59页 |
·本章小结 | 第59-61页 |
第四章 银包铜粉导电胶的制备及其性能研究 | 第61-75页 |
·银包铜粉导电胶的配方设计 | 第61-62页 |
·银包铜粉导电胶各组分的选择 | 第61-62页 |
·导电胶的配制过程 | 第62页 |
·实验用原材料 | 第62页 |
·银包铜粉的分散处理 | 第62页 |
·结果和讨论 | 第62-72页 |
·导电填料对导电胶性能的影响 | 第62-66页 |
·硅烷偶联剂的用量对导电胶性能的影响 | 第66-67页 |
·溶剂对导电胶性体积电阻率的影响 | 第67-69页 |
·固化条件对导电胶性能的影响 | 第69-72页 |
·增韧剂对导电胶性能的影响 | 第72-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
第五章 结论与展望 | 第75-76页 |
·本文结论 | 第75页 |
·展望 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-82页 |
攻读硕士期间公开发表的论文及其他成果 | 第82-83页 |
致谢 | 第83页 |