摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
目录 | 第9-13页 |
图和附表清单 | 第13-16页 |
第1章 绪论 | 第16-27页 |
·研究背景 | 第16-17页 |
·可降解支架材料 | 第17-19页 |
·纯铁 | 第18页 |
·镁合金 | 第18-19页 |
·支架高分子涂层材料 | 第19-22页 |
·胶原蛋白 | 第19-20页 |
·壳聚糖 | 第20-21页 |
·聚乳酸及其共聚物 | 第21-22页 |
·聚氨酯 | 第22页 |
·支架涂层所载药物 | 第22-23页 |
·雷帕霉素 | 第22-23页 |
·紫杉醇 | 第23页 |
·肝素 | 第23页 |
·血管支架的发展趋势 | 第23-24页 |
·镁合金血管支架的研究及应用现状 | 第24-25页 |
·研究意义及技术路线 | 第25-27页 |
·研究意义 | 第25-26页 |
·技术路线 | 第26-27页 |
第2章 实验方法及分析手段 | 第27-34页 |
·实验材料 | 第27-30页 |
·镁合金 | 第27页 |
·壳聚糖 | 第27-28页 |
·偶联剂 | 第28页 |
·交联剂 | 第28-29页 |
·磺化壳聚糖的制备 | 第29-30页 |
·实验内容 | 第30-31页 |
·镁合金表面壳聚糖膜的制备实验 | 第30页 |
·镁合金表面的活化实验 | 第30页 |
·镁合金表面的偶联实验 | 第30-31页 |
·壳聚糖的交联实验 | 第31页 |
·磺化壳聚糖涂层的制备 | 第31页 |
·自组装涂层的制备 | 第31页 |
·实验分析手段 | 第31-34页 |
·扫描电子显微镜(SEM)及能谱分析(EDS) | 第31页 |
·红外光谱(FT-IR)分析 | 第31页 |
·接触角测量 | 第31-32页 |
·极化曲线测量 | 第32页 |
·交流阻抗谱(EIS)检测 | 第32-33页 |
·开路电压测量 | 第33页 |
·浸泡实验与pH值测量 | 第33-34页 |
第3章 镁合金表面不同浓度壳聚糖膜的制备与性能研究 | 第34-43页 |
·壳聚糖膜的表征 | 第34-36页 |
·壳聚糖膜形貌分析 | 第34-35页 |
·壳聚糖膜截面分析 | 第35-36页 |
·壳聚糖膜腐蚀性能的研究 | 第36-43页 |
·电化学极化曲线测试 | 第36-38页 |
·交流阻抗测试 | 第38-39页 |
·开路电位测试 | 第39-40页 |
·浸泡实验 | 第40-43页 |
第4章 镁合金经处理后其表面壳聚糖膜的制备与性能研究 | 第43-64页 |
·活化处理对镁合金表面壳聚糖膜的影响 | 第43-49页 |
·形貌分析 | 第43-44页 |
·电化学极化曲线测试 | 第44-45页 |
·交流阻抗测试 | 第45-46页 |
·开路电位测试 | 第46-47页 |
·浸泡实验 | 第47-49页 |
·偶联处理对镁合金表面壳聚糖膜的影响 | 第49-56页 |
·形貌分析 | 第49-50页 |
·电化学极化曲线测试 | 第50-51页 |
·交流阻抗测试 | 第51-52页 |
·开路电位测试 | 第52-53页 |
·浸泡实验 | 第53-56页 |
·交联处理对镁合金表面壳聚糖膜的影响 | 第56-62页 |
·形貌分析 | 第56-57页 |
·电化学极化曲线测试 | 第57-58页 |
·交流阻抗测试 | 第58-59页 |
·开路电位测试 | 第59-60页 |
·浸泡实验 | 第60-62页 |
·接触角测量 | 第62-64页 |
第5章 镁合金表面磺化壳聚糖膜和自组装膜的制备与性能研究 | 第64-77页 |
·磺化壳聚糖膜的表征 | 第64-70页 |
·磺化壳聚糖膜的能谱分析 | 第64页 |
·磺化壳聚糖膜的红外光谱 | 第64-65页 |
·电化学腐蚀测试 | 第65-68页 |
·浸泡实验 | 第68-70页 |
·壳聚糖/磺化壳聚糖层层自组装膜的制备和表征 | 第70-75页 |
·壳聚糖/磺化壳聚糖层层自组装膜的形貌 | 第70-71页 |
·壳聚糖/磺化壳聚糖层层自组装膜的能谱分析 | 第71-72页 |
·开路电位测试 | 第72-73页 |
·腐蚀形貌 | 第73-74页 |
·pH值测量 | 第74-75页 |
·接触角测量 | 第75-77页 |
第6章 结论与展望 | 第77-80页 |
·结论 | 第77-78页 |
·展望 | 第78-80页 |
参考文献 | 第80-85页 |
致谢 | 第85-86页 |
个人简历 在学期间发表的学术论文及研究成果 | 第86页 |