| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| ·选题背景及意义 | 第10-11页 |
| ·电阻触摸屏原理介绍 | 第11-15页 |
| ·四线电阻电阻屏 | 第11-12页 |
| ·四线电阻触摸屏测量原理 | 第12-15页 |
| ·四线电阻触摸屏控制芯片设计方案 | 第15-17页 |
| ·模数转换器结构选择 | 第15-17页 |
| ·触摸屏控制芯片功能扩展 | 第17页 |
| ·触摸屏控制芯片发展现状 | 第17-18页 |
| ·论文主要内容 | 第18-19页 |
| 第二章 TSC2046E 芯片功能介绍 | 第19-24页 |
| ·芯片逆向工程原理 | 第19-20页 |
| ·触摸屏控制芯片TSC2046E 功能介绍 | 第20-21页 |
| ·逆向设计所用工艺介绍 | 第21-24页 |
| ·BiCMOS 工艺介绍 | 第22页 |
| ·Charted 0.35um Mix Signal 工艺 | 第22-24页 |
| 第三章 电路模块分析与验证 | 第24-62页 |
| ·逐次逼近ADC 模块分析与验证 | 第25-44页 |
| ·TSC2046E 中逐次逼近ADC 原理 | 第25-31页 |
| ·基于电荷再分布原理电容阵列分析 | 第31-35页 |
| ·SAR 寄存器分析 | 第35-37页 |
| ·比较器分析 | 第37-41页 |
| ·比较器偏置电路仿真分析 | 第41-44页 |
| ·温度传感器及笔触检测分析与验证 | 第44-48页 |
| ·TEMP0 测温原理及仿真 | 第45-46页 |
| ·TEMP1 测温原理及仿真 | 第46-47页 |
| ·笔触检测模块功能分析 | 第47-48页 |
| ·电池检测模块分析与验证 | 第48-50页 |
| ·片上2.5V 带隙基准分析与验证 | 第50-56页 |
| ·TSC2046E 带隙基准模块分析 | 第51-54页 |
| ·片上2.5V 带隙基准仿真验证 | 第54-56页 |
| ·数字接口及逻辑控制模块分析与验证 | 第56-62页 |
| ·数字接口电路分析 | 第56-59页 |
| ·多路选择器模块分析及验证 | 第59-62页 |
| 第四章 电路整体功能仿真 | 第62-75页 |
| ·仿真Testbench 介绍以及验证项目 | 第63-64页 |
| ·芯片触摸屏信号仿真验证 | 第64-66页 |
| ·X、Y 位置仿真验证 | 第64-65页 |
| ·压力测量仿真验证 | 第65-66页 |
| ·温度传感器及笔触功能验证 | 第66-70页 |
| ·TEMP0 模式仿真验证 | 第66-68页 |
| ·TEMP1 模式仿真验证 | 第68-70页 |
| ·笔触检测功能验证 | 第70页 |
| ·数字部分特殊情况下仿真验证 | 第70-75页 |
| ·连续输入连续采样仿真 | 第71-72页 |
| ·不均匀时钟输入仿真结果 | 第72-73页 |
| ·15 周期转换以及吞吐率仿真 | 第73-75页 |
| 第五章 芯片版图设计、制造及测试 | 第75-85页 |
| ·MPW 计划介绍 | 第75页 |
| ·芯片电路及版图 | 第75-80页 |
| ·流片后测试 | 第80-85页 |
| ·测试平台电路原理图 | 第80-81页 |
| ·测试平台以及芯片实物 | 第81-83页 |
| ·测试结果 | 第83-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
| 附录A 差分模式详细推导 | 第88-94页 |
| 附录B 测试平台电路图及PCB | 第94-96页 |
| 在学研究成果 | 第96-97页 |
| 致谢 | 第97页 |