| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-21页 |
| ·纳米技术与纳米材料 | 第8-11页 |
| ·低维纳米材料的制备与表征 | 第11-13页 |
| ·有机薄膜电晶体材料 | 第13-15页 |
| ·薄膜的成核与生长理论 | 第15-17页 |
| ·本论文的结构安排 | 第17-18页 |
| 参考文献 | 第18-21页 |
| 第二章 实验技术及其原理 | 第21-36页 |
| ·超高真空技术 | 第21-24页 |
| ·分子束外延技术 | 第24-25页 |
| ·低温技术 | 第25-27页 |
| ·扫描隧道显微镜 | 第27-33页 |
| ·STM的基本原理和工作模式 | 第27-29页 |
| ·STM的基本构造 | 第29-31页 |
| ·扫描隧道谱(STS)的基本原理 | 第31-32页 |
| ·STM针尖的制备 | 第32-33页 |
| ·实验仪器介绍 | 第33-35页 |
| 参考文献 | 第35-36页 |
| 第三章 红荧烯薄膜在Bi(111)表面的公度-非公度相变 | 第36-50页 |
| ·背景介绍 | 第36-39页 |
| ·实验方法 | 第39-41页 |
| ·红荧烯分子在Bi(111)表面的自组装 | 第41-42页 |
| ·红荧烯分子在Bi(111)表面的公度-非公度相变 | 第42-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-50页 |
| 第四章 晶态红荧烯薄膜中的质量密度波 | 第50-62页 |
| ·背景介绍 | 第50-51页 |
| ·红荧烯晶体层薄膜 | 第51-53页 |
| ·全晶态红荧烯薄膜中的质量密度波 | 第53-58页 |
| ·理论和实验结果的比较 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 第五章 结论 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 硕士期间论文发表情况 | 第64页 |