飞秒激光抽运探测法纳米材料及界面热输运机理研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-11页 |
| 第1章 引言 | 第11-37页 |
| ·课题的背景及意义 | 第11-17页 |
| ·热输运过程的微观机理 | 第11-14页 |
| ·极限时空尺度热输运过程的新现象 | 第14-16页 |
| ·应用中的新问题、新挑战 | 第16-17页 |
| ·国内外研究发展现状 | 第17-34页 |
| ·飞秒-皮秒时间尺度非平衡热过程的观测 | 第18-22页 |
| ·纳米结构材料热物性的测量 | 第22-26页 |
| ·界面热阻的测量 | 第26-30页 |
| ·微纳尺度热物性扫描技术 | 第30-34页 |
| ·本文主要研究目的及研究内容 | 第34-37页 |
| ·研究目的 | 第34-35页 |
| ·研究内容 | 第35-37页 |
| 第2章 测量原理及传热模型 | 第37-53页 |
| ·测量原理 | 第37-41页 |
| ·两步热传导模型 | 第41-44页 |
| ·柱坐标下傅里叶热传导模型 | 第44-52页 |
| ·周期热源条件下的热传导模型 | 第44-49页 |
| ·锁相放大器得到的响应信号 | 第49-51页 |
| ·信号敏感度分析方法 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第3章 飞秒激光抽运探测热反射系统的建立 | 第53-73页 |
| ·飞秒激光抽运探测热反射系统总体设计方案 | 第53-55页 |
| ·主要仪器及模块 | 第55-62页 |
| ·飞秒脉冲激光器 | 第55-56页 |
| ·电光调制器 | 第56-57页 |
| ·锁相放大器 | 第57-58页 |
| ·分光模块 | 第58页 |
| ·倍频模块 | 第58-59页 |
| ·聚焦及探测模块 | 第59-60页 |
| ·系统控制及数据采集软件 | 第60-61页 |
| ·圆柱透镜组 | 第61-62页 |
| ·系统的调试 | 第62-71页 |
| ·光路调试 | 第62-63页 |
| ·激光光谱及脉冲宽度测量 | 第63-64页 |
| ·锁相放大器积分时间的设定 | 第64-65页 |
| ·光斑直径测量 | 第65-68页 |
| ·滤除高频分量及增加信噪比 | 第68-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 第4章 纳米材料热导率及界面热导测量 | 第73-94页 |
| ·纳米金属薄膜的测量 | 第73-77页 |
| ·Au膜 | 第73-74页 |
| ·Ni膜 | 第74-75页 |
| ·W膜 | 第75页 |
| ·Al膜 | 第75-77页 |
| ·双层结构的测量结果 | 第77-83页 |
| ·非金属纳米薄膜的测量结果与分析 | 第83-90页 |
| ·二氧化硅薄膜 | 第83-85页 |
| ·高分子聚合物薄膜 | 第85-86页 |
| ·单分子层沉积高分子聚合物薄膜 | 第86-90页 |
| ·纳米线阵列的测量结果与分析 | 第90-92页 |
| ·本章小结 | 第92-94页 |
| 第5章 微米结构材料热物性扫描 | 第94-100页 |
| ·基于TDTR技术的热物性扫描方法 | 第94-95页 |
| ·铜、锡样品 | 第95-96页 |
| ·二氧化硅、硅样品 | 第96-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 第6章 频域方法的分析与测量结果 | 第100-110页 |
| ·时域方法的敏感度分析 | 第100-103页 |
| ·频域方法的敏感度分析 | 第103-105页 |
| ·频域方法对纳米薄膜的测量结果 | 第105-109页 |
| ·本章小结 | 第109-110页 |
| 第7章 结论与展望 | 第110-114页 |
| ·本文研究总结 | 第110-111页 |
| ·创新点 | 第111页 |
| ·未来工作展望 | 第111-114页 |
| 主要符号表 | 第114-116页 |
| 参考文献 | 第116-131页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文与专利目录 | 第131-132页 |
| 专利 | 第132-133页 |
| 致谢 | 第133页 |
