延迟时间大范围可调光缓存器控制技术的研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 1 引言 | 第10-18页 |
| ·光缓存器的应用 | 第10-12页 |
| ·在光分组交换网中的应用 | 第10-11页 |
| ·在光突发交换网络中应用 | 第11-12页 |
| ·光缓存器的发展 | 第12-17页 |
| ·本文实现的目标 | 第17-18页 |
| 2 基于SOA的延迟时间大范围可调光缓存器 | 第18-26页 |
| ·缓存器系统的核心元器件 | 第18-22页 |
| ·平行排列3×3耦合器的结构和参数 | 第18-19页 |
| ·半导体光放大器 | 第19-21页 |
| ·光环行器 | 第21-22页 |
| ·9999结构光缓存器的原理 | 第22-24页 |
| ·缓存包长与SOA在主环中的位置分析 | 第24-26页 |
| 3 SOA驱动电路设计 | 第26-32页 |
| ·半导体光开关整体设计方案 | 第26-27页 |
| ·半导体光放大器的驱动电路 | 第27-28页 |
| ·温度控制电路 | 第28-32页 |
| ·温度控制电路一 | 第29-31页 |
| ·温控电路二 | 第31-32页 |
| 4 SOA时序控制电路设计 | 第32-39页 |
| ·现场可编程逻辑器件的发展 | 第32页 |
| ·Verilog HDL硬件描述语言 | 第32-33页 |
| ·FPGA的设计流程 | 第33-35页 |
| ·时序控制电路 | 第35-39页 |
| 5 9999结构光缓存器控制电路性能测试 | 第39-53页 |
| ·上SOA前的各电路部分的性能测试 | 第39-42页 |
| ·电源性能 | 第39页 |
| ·温度控制电路性能测试 | 第39-40页 |
| ·驱动电路性能测试 | 第40-42页 |
| ·上SOA后的性能测试 | 第42-48页 |
| ·实验中的SOA | 第42-45页 |
| ·SOA的ASE噪声测试 | 第45-47页 |
| ·直流信号光放大测试 | 第47-48页 |
| ·SOA的开关窗口 | 第48-49页 |
| ·直流光通过光开关 | 第49-50页 |
| ·交流信号通过光开关 | 第50-53页 |
| 6 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-55页 |
| 附录 A | 第55-56页 |
| 索引 | 第56-57页 |
| 作者简历 | 第57-59页 |
| 学位论文数据集 | 第59页 |
