| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| ·背景和意义 | 第9-10页 |
| ·背景 | 第9-10页 |
| ·意义 | 第10页 |
| ·研究内容 | 第10-12页 |
| ·半导体厂商的预测模式 | 第10-11页 |
| ·问题描述 | 第11页 |
| ·解决方案 | 第11-12页 |
| ·论文的总框架 | 第12页 |
| ·本章小节 | 第12-13页 |
| 第二章 半导体生产能力与国内外研究现状 | 第13-19页 |
| ·半导体生产能力与工业工程 | 第13-14页 |
| ·半导体的生产能力 | 第14-15页 |
| ·长期生产能力计划过程中的关键问题 | 第15-16页 |
| ·半导体产能规划的国内研究现状 | 第16-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 半导体生产面积需求的风险识别 | 第19-29页 |
| ·引言 | 第19页 |
| ·支持向量机原理(SVM) | 第19-23页 |
| ·线性可分情形 | 第20-22页 |
| ·非线性可分情形 | 第22页 |
| ·支持向量机的核函数形式 | 第22-23页 |
| ·SVM 在半导体生产面积规划风险识别中的应用 | 第23-28页 |
| ·关键因素的识别 | 第23-25页 |
| ·数据说明及预处理过程 | 第25-26页 |
| ·SVM 判别函数建立过程 | 第26-27页 |
| ·模型的检验 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第四章 半导体生产面积规划中的风险评估 | 第29-39页 |
| ·引言 | 第29-30页 |
| ·VaR (Value at Risk) | 第30-31页 |
| ·VaR 的概念 | 第30页 |
| ·VaR 研究现状 | 第30-31页 |
| ·VaR 的计算方法 | 第31-33页 |
| ·历史模拟法 | 第31-32页 |
| ·方差—协方差法 | 第32-33页 |
| ·蒙特卡罗模拟方法 (Monte Carlo Simulation) | 第33页 |
| ·VaR 在生产面积规划中的应用 | 第33-38页 |
| ·生产面积规划过程中的风险因子 | 第33-34页 |
| ·VaR 应用在生产面积规划风险评估中的合理性 | 第34-35页 |
| ·VaR 与生产面积规划 | 第35-36页 |
| ·半导体厂商的风险承受能力 | 第36页 |
| ·实证过程 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第五章 总结与展望 | 第39-41页 |
| ·本文小结 | 第39-40页 |
| ·展望 | 第40-41页 |
| 致谢 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-45页 |
| 攻读硕士期间所取得的研究成果 | 第45页 |