中文摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-6页 |
目录 | 第6-7页 |
第一章 概述 | 第7-10页 |
第二章 指数分布异常数据的检验 | 第10-23页 |
·引言 | 第10页 |
·基于样本中位数的Z型检验统计量 | 第10-12页 |
·Z型检验统计量的大样本近似分布以及近似临界值 | 第12-16页 |
·指数分布定数截尾场合多个异常数据的检验 | 第16-23页 |
第三章 两参数Weibull分布异常数据的检验 | 第23-35页 |
·引言 | 第23-24页 |
·基于样本分位数的Z~*型检验统计量 | 第24-28页 |
·Z~*型检验统计量的检验效率 | 第28-30页 |
·I型极小值分布异常数据的检验 | 第30-35页 |
第四章 双参数指数分布异常数据的检验 | 第35-45页 |
·引言 | 第35页 |
·T型检验统计量的构造 | 第35-37页 |
·T型检验统计量的精确分布 | 第37-41页 |
·T型检验统计量的大样本近似分布 | 第41-42页 |
·T型检验统计量的检验效率 | 第42-45页 |
参考文献 | 第45-48页 |
致谢 | 第48-49页 |
硕士期间发表论文情况 | 第49页 |