| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| ·扫描隧道显微技术的发展概况 | 第8-9页 |
| ·STM与非STM系列的表面分析仪器比较的独特忧点 | 第9-10页 |
| ·STM的主要应用领域 | 第10-13页 |
| ·在表面分析及其凝聚态基础理论研究中的应用 | 第10-11页 |
| ·在生命科学中的应用 | 第11-12页 |
| ·在纳米加工领域中的应用 | 第12-13页 |
| ·本课题和论文的主要工作任务 | 第13-14页 |
| 2 基本原理 | 第14-24页 |
| ·引言 | 第14页 |
| ·基本隧道理论 | 第14-17页 |
| ·关于STM原理的理论模型解释 | 第17-24页 |
| ·弹性隧道效应 | 第18-19页 |
| ·稳态隧道模型 | 第19-20页 |
| ·过渡哈密顿量方法 | 第20-21页 |
| ·非弹性隧道效应 | 第21-24页 |
| 3 STM系统 | 第24-33页 |
| ·镜体部分 | 第24-25页 |
| ·振动隔绝系统 | 第24-25页 |
| ·针尖与样品位置的粗调与细调机构 | 第25页 |
| ·步进驱动系统 | 第25-26页 |
| ·压电陶瓷扫描器 | 第26-28页 |
| ·数据采集系统 | 第28-30页 |
| ·对数放大部分 | 第28-29页 |
| ·比例放大部分 | 第29页 |
| ·低通与高通滤波部分 | 第29-30页 |
| ·扫描驱动系统 | 第30页 |
| ·计算机工作站和图象处理 | 第30-33页 |
| ·图象的三维重建 | 第31页 |
| ·图象的增强和平滑 | 第31页 |
| ·图象的变换 | 第31-33页 |
| 4 在STM基础上发展起来的扫描探针显微镜系列 | 第33-39页 |
| ·原子力显微镜(AFM) | 第33-34页 |
| ·激光力显微镜(LFM) | 第34页 |
| ·磁力显微镜(MFM) | 第34-35页 |
| ·静电力显微镜(EFM) | 第35页 |
| ·弹道电子发射显微术(BEEM) | 第35-36页 |
| ·扫描离子电导显微镜(SICM) | 第36页 |
| ·扫描热显微镜 | 第36-37页 |
| ·扫描隧道电位仪(STP) | 第37页 |
| ·光子扫描隧道显微镜(PSTM) | 第37页 |
| ·扫描近场光学显微镜(SNOM) | 第37-39页 |
| 5 金、晶体硅和纳米碳酸钙的电流-电压隧道谱实验 | 第39-54页 |
| ·隧道谱的概念与基本理论 | 第39-42页 |
| ·常用实验方法 | 第42-45页 |
| ·电流-电压隧道谱 | 第42-43页 |
| ·电流-间隙特性 | 第43-44页 |
| ·恒电流形貌图(CCT) | 第44页 |
| ·电流成象隧道谱(CITS) | 第44-45页 |
| ·具体实验方法 | 第45-46页 |
| ·实验结果 | 第46-52页 |
| ·金 | 第46-48页 |
| ·晶体硅 | 第48-50页 |
| ·纳米碳酸钙 | 第50-52页 |
| ·对实验结果定性分析 | 第52-54页 |
| 6 STM作为检测AFM微悬臂微位移的装置 | 第54-58页 |
| ·检测AFM微悬臂微位移的方法 | 第54-56页 |
| ·我们的技术手段与结论 | 第56-58页 |
| 7 结论与展望 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |