| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-19页 |
| §1．1 光学测试技术的发展及传统光干涉存在的问题 | 第7页 |
| §1．2 自混合干涉理论及其应用研究的进展 | 第7-13页 |
| 1．2．1 自混合干涉的理论研究 | 第8-10页 |
| 1．2．2 自混合干涉的应用研究 | 第10-13页 |
| §1．3 散斑测量的现状 | 第13-17页 |
| 1．3．1 散斑在测量上的一些应用 | 第14-16页 |
| 1．3．2 散斑测量方法的发展 | 第16-17页 |
| §1．4 半导体激光器自混合散斑干涉的提出和研究意义 | 第17-18页 |
| §1．5 课题来源及本文主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第二章 一般半导体激光器自混合干涉的研究 | 第19-32页 |
| §2．1 引言 | 第19页 |
| §2．2 半导体激光器自混合理论 | 第19-26页 |
| 2．2．1 速率方程 | 第19-20页 |
| 2．2．2 理论模型与分析 | 第20-23页 |
| 2．2．3 半导体激光器自混合干涉的仿真分析 | 第23-25页 |
| 2．2．4 结论 | 第25-26页 |
| §2．3 半导体激光器自混合干涉的实验 | 第26-31页 |
| 2．3．1 引言 | 第26页 |
| 2．3．2 实验装置的构成 | 第26-29页 |
| 2．3．3 一般自混合干涉现象的观察验证 | 第29-31页 |
| §2．4 本章结论 | 第31-32页 |
| 第三章 半导体激光器自混合散斑干涉的研究 | 第32-54页 |
| §3．1 引言 | 第32页 |
| §3．2 半导体激光器的自混合散斑干涉理论基础 | 第32页 |
| §3．3 半导体激光器的自混合散斑干涉理论 | 第32-43页 |
| 3．3．1 半导体体激光器的自混合散斑干涉 | 第33-34页 |
| 3．3．2 高斯相关的表面高度函数h（x_1） | 第34-36页 |
| 3．3．3 粗糙面的有效反射系数（?） | 第36-38页 |
| 3．3．4 自混合散斑干涉的理论解 | 第38页 |
| 3．3．5 变反馈条件下的仿真模拟 | 第38-43页 |
| §3．4 半导体激光器自混合散斑干涉的实验 | 第43-52页 |
| 3．4．1 实验系统的构成 | 第43-49页 |
| 3．4．2 实验装置的调整 | 第49页 |
| 3．4．3 自混合散斑干涉信号的观察和分析 | 第49-50页 |
| 3．4．4 自混合散斑干涉信号的波动次数与粗糙表面移动速度大小的关系 | 第50-51页 |
| 3．4．5 利用波动次数与速度的线性关系对速度进行测量 | 第51-52页 |
| 3．4．6 实验存在的问题 | 第52页 |
| §3．5 本章结论 | 第52-54页 |
| 结束语 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 附录 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
