| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-12页 |
| 第一章 综述 | 第12-26页 |
| ·颗粒测量 | 第12-16页 |
| ·颗粒测量的重要性 | 第12-13页 |
| ·颗粒测量中有关概念 | 第13-16页 |
| ·颗粒粒径的表示 | 第13-14页 |
| ·颗粒粒径分布 | 第14-16页 |
| ·颗粒群的各种平均径 | 第16页 |
| ·颗粒测量的分类 | 第16-20页 |
| ·筛分法 | 第17页 |
| ·显微镜法 | 第17-18页 |
| ·沉降法 | 第18页 |
| ·电感应法(Coulter 方法) | 第18-19页 |
| ·光散射法(Light Scattering) | 第19-20页 |
| ·光散射测粒方法的分类及现状 | 第20-23页 |
| ·光散射测粒法的分类 | 第20-22页 |
| ·按散射信号分类 | 第20-21页 |
| ·按被测颗粒数(单个、多个)分类 | 第21页 |
| ·按采集信号模式(动态、静态)分类 | 第21-22页 |
| ·按序列(时间型、空间型)分类 | 第22页 |
| ·光散射法测粒现状 | 第22-23页 |
| ·小角前向散射法 | 第22页 |
| ·角散射法 | 第22页 |
| ·全散射法 | 第22-23页 |
| ·光子相关光谱法 | 第23页 |
| ·本文工作 | 第23-26页 |
| ·课题的提出 | 第23-24页 |
| ·本文工作 | 第24-26页 |
| 第二章光散射的电磁场理论 | 第26-52页 |
| ·光的电磁性质 | 第26-29页 |
| ·麦克斯韦电磁场方程及其边界条件 | 第26-27页 |
| ·介质的耗散性 | 第27-28页 |
| ·光的偏振性 | 第28-29页 |
| ·光散射概述 | 第29-35页 |
| ·光散射现象 | 第29页 |
| ·不相关散射与相关散射 | 第29-30页 |
| ·单散射与复散射 | 第30页 |
| ·有关散射的几个物理量 | 第30-35页 |
| ·散射截面C_(sca) 与散射系数K_(sca) | 第30-31页 |
| ·吸收截面C_(abs) 与吸收系数K_(abs) | 第31页 |
| ·消光截面C_(ext) 与消光系数K_(ext) | 第31-32页 |
| ·光散射的标量描述 | 第32页 |
| ·光散射的矢量描述 | 第32-35页 |
| ·Mie 散射理论 | 第35-46页 |
| ·基本理论 | 第35-37页 |
| ·光散射的有关物理量的数值计算 | 第37-41页 |
| ·Mie 散射理论的数值计算 | 第37-38页 |
| ·Mie 散射理论的数值计算的改进 | 第38-41页 |
| ·Mie 散射的光强分布及其偏振规律 | 第41-46页 |
| ·光强分布规律 | 第43-44页 |
| ·偏振规律 | 第44页 |
| ·波长与颗粒大小以及折射率对散射的影响 | 第44-45页 |
| ·消光、散射和吸收规律 | 第45-46页 |
| ·Mie 光散射理论的近似 | 第46-52页 |
| ·瑞利散射 | 第46-48页 |
| ·夫朗和费衍射 | 第48-52页 |
| 第三章 小角前向光散射法测量下限 | 第52-68页 |
| ·概述 | 第52页 |
| ·小角前向散射激光测粒仪的测量原理 | 第52-56页 |
| ·小角前向散射法测量装置原理图 | 第53-54页 |
| ·小角前向散射法测量原理 | 第54-56页 |
| ·FD 式激光测粒仪测量原理 | 第55-56页 |
| ·Mie 小角前向散射激光测粒仪测量原理 | 第56页 |
| ·测量下限的涵义 | 第56-60页 |
| ·不同粒径颗粒的散射光能分布差异 | 第56-58页 |
| ·对颗粒的分辨能力 | 第58-59页 |
| ·仪器误差与临界散射光能分布差异 | 第59-60页 |
| ·测量下限 | 第60页 |
| ·测量下限的模拟计算及结论 | 第60-63页 |
| ·衍射式(FD)激光测粒仪的测量下限 | 第60-62页 |
| ·Mie 小角前向散射激光测粒仪的测量下限 | 第62-63页 |
| ·降低测量下限的手段 | 第63-67页 |
| ·富里叶反变换技术 | 第64-65页 |
| ·双镜头技术 | 第65-66页 |
| ·双光源技术 | 第66页 |
| ·偏振光散射强度差(PIDS)技术 | 第66-67页 |
| ·全方位多角度技术 | 第67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第四章 全方位多角度光散射法理论模型及其测量下限 | 第68-84页 |
| ·概述 | 第68-69页 |
| ·散射光强度测量模型 | 第69-72页 |
| ·测量装置 | 第69-70页 |
| ·测量原理 | 第70-72页 |
| ·小角前向散射部分 | 第70-71页 |
| ·侧斜向大角度散射部分 | 第71页 |
| ·理论模型 | 第71-72页 |
| ·散射光能测量模型 | 第72-77页 |
| ·点测量区域的理论模型 | 第72-75页 |
| ·测量装置 | 第72-73页 |
| ·测量原理 | 第73-75页 |
| ·块测量区域的理论模型 | 第75-77页 |
| ·测量装置 | 第75页 |
| ·测量原理 | 第75-77页 |
| ·理论模型的比较 | 第77-78页 |
| ·侧斜向探测角位置的选择 | 第78-82页 |
| ·单分散系颗粒群的散射光分布 | 第79-80页 |
| ·多分散颗粒群的散射光分布 | 第80-82页 |
| ·侧斜向光电探测元件个数和角位置 | 第82页 |
| ·全方位多角度散射法的测量下限 | 第82-84页 |
| 第五章 全方位多角度光散射法模拟计算 | 第84-96页 |
| ·POWELL 优化方法 | 第84-89页 |
| ·POWELL 优化方法 | 第84-85页 |
| ·粒径自适应分档模式 | 第85-87页 |
| ·目标函数与多格点计算方案 | 第87-89页 |
| ·模拟计算及分析 | 第89-95页 |
| ·侧斜向散射光强模式模拟计算结果和分析 | 第89-91页 |
| ·模拟计算 | 第89-90页 |
| ·模拟计算结果 | 第90-91页 |
| ·侧斜向点区域散射光能模式模拟计算结果和分析 | 第91-93页 |
| ·模拟计算 | 第91-92页 |
| ·模拟计算结果 | 第92-93页 |
| ·侧斜向块区域散射光能模式模拟计算结果和分析 | 第93-95页 |
| ·模拟计算 | 第93页 |
| ·模拟计算结果 | 第93-95页 |
| ·结论 | 第95-96页 |
| 第六章关于小角前向散射法二个重要问题的讨论 | 第96-109页 |
| ·输入折射率导致的误差 | 第96-101页 |
| ·研究方法 | 第96-97页 |
| ·模拟计算结果 | 第97-100页 |
| ·误差Err 与输入折射率m'的关系( Err～m'曲线) | 第98-99页 |
| ·不同粒径颗粒的误差Err ( Err ～d 曲线) | 第99-100页 |
| ·实验验证 | 第100页 |
| ·小结 | 第100-101页 |
| ·光电探测元件的对中问题 | 第101-108页 |
| ·对中误差的计算模型 | 第101-104页 |
| ·倾斜 | 第102-103页 |
| ·偏心 | 第103页 |
| ·对中良好 | 第103-104页 |
| ·数值计算及结果 | 第104-108页 |
| ·倾斜情况 | 第105页 |
| ·偏心情况 | 第105-106页 |
| ·误差与颗粒粒径、折射率的关系 | 第106-108页 |
| ·小结 | 第108页 |
| ·结论 | 第108-109页 |
| 第七章全方位多角度光散射法中影响测量结果的几个因素 | 第109-116页 |
| ·接收信号误差 | 第109-112页 |
| ·侧斜向光电探测元件位置误差 | 第112-114页 |
| ·输入折射率误差 | 第114-116页 |
| 第八章富里叶反变换技术的实验研究 | 第116-126页 |
| ·实验装置 | 第116-117页 |
| ·样品池窗口和分散介质对测量的影响 | 第117-119页 |
| ·对会聚点位置和入射光方向的影响 | 第117-118页 |
| ·散射角的修正 | 第118-119页 |
| ·对散射光信号的反射损失 | 第119页 |
| ·标准颗粒的实验结果及误差分析 | 第119-124页 |
| ·实验结果 | 第120-122页 |
| ·对微米级颗粒的测量 | 第120-121页 |
| ·对亚微米级颗粒的测量 | 第121-122页 |
| ·测量误差分析 | 第122-124页 |
| ·等效焦距取值对测量结果的影响 | 第123页 |
| ·样品池窗口对入射光方向的改变及其它因素 | 第123-124页 |
| ·影响富里叶反变换技术测量下限的因素 | 第124页 |
| ·散射光信号修正的必要性 | 第124-126页 |
| 第九章全方位多角度散射法实验研究 | 第126-145页 |
| ·侧斜向散射光强度测量模式 | 第126-134页 |
| ·测量装置 | 第126-129页 |
| ·侧斜向光电探测元件及A/D 数据采集系统 | 第127-128页 |
| ·侧斜向光电探测系统的调校 | 第128-129页 |
| ·光电探测元件CCD 接收信号的计算 | 第129-130页 |
| ·散射角修正 | 第129页 |
| ·光电探测元件CCD 像元序号与散射角的关系 | 第129-130页 |
| ·透过率修正 | 第130页 |
| ·CCD 接收信号所对应的散射角范围 | 第130-131页 |
| ·对标准颗粒的实验结果及其分析 | 第131-134页 |
| ·实验结果 | 第131-132页 |
| ·实验结果的分析 | 第132-134页 |
| ·侧斜向散射光能量测量模式 | 第134-144页 |
| ·测量装置及调校 | 第135-136页 |
| ·侧斜向探测单元接收散射光信号的计算 | 第136-138页 |
| ·散射角与透过率的修正 | 第136-137页 |
| ·反射光引起的散射的修正 | 第137页 |
| ·探测单元接收散射光信号的计算 | 第137-138页 |
| ·对标准颗粒的测量及结果分析 | 第138-144页 |
| ·失调测试与暗电流的测量 | 第138页 |
| ·对标准颗粒散射光信号的测量 | 第138-140页 |
| ·光响应系数的标定 | 第140-141页 |
| ·实验结果及误差分析 | 第141-144页 |
| ·结论 | 第144-145页 |
| 第十章 结束语 | 第145-148页 |
| 一、本研究工作的背景、意义和主要内容 | 第145-146页 |
| 二、本论文理论分析和实验研究的结论 | 第146-147页 |
| 三、实验研究中的不足之处 | 第147-148页 |
| 参考文献 | 第148-154页 |
| 附录一 CCD和A/D卡的技术指标 | 第154-155页 |
| 附录二 侧斜向散射光测量模式数据采集程序 | 第155-159页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文 | 第159-160页 |
| 致谢 | 第160页 |
