| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-18页 |
| ·研究的目的和意义 | 第11-13页 |
| ·可靠性增长研究的目的 | 第11-12页 |
| ·军用电子硬盘可靠性增长研究的意义 | 第12-13页 |
| ·可靠性增长概述 | 第13-16页 |
| ·可靠性增长过程 | 第13-14页 |
| ·可靠性增长试验 | 第14-15页 |
| ·GB/T15174《可靠性增长大纲》中关于可靠性增长方面的定义 | 第15-16页 |
| ·军用电子硬盘可靠性增长研究现状分析及发展趋势 | 第16-17页 |
| ·可靠性增长在国外的研究与现状 | 第16页 |
| ·可靠性增长在我国的研究与现状 | 第16-17页 |
| ·军用电子硬盘的可靠性增长试验与设计研究现状 | 第17页 |
| ·论文的内容与特色 | 第17-18页 |
| 第二章 军用电子硬盘特点及可靠性增长试验规划 | 第18-33页 |
| ·军用电子硬盘的特点及构造 | 第19-25页 |
| ·军用电子硬盘简介 | 第19页 |
| ·军用电子硬盘的原理 | 第19-23页 |
| ·军用电子硬盘的构造 | 第23-24页 |
| ·军用电子硬盘的典型应用 | 第24-25页 |
| ·军用电子硬盘的可靠性失效分析与改进 | 第25-30页 |
| ·军用电子硬盘的失效分析 | 第25-28页 |
| ·军用电子硬盘的失效改进策略 | 第28-30页 |
| ·军用电子硬盘的可靠性增长试验规划 | 第30-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第三章 可靠性增长的模型 | 第33-38页 |
| ·Duane 模型 | 第33-35页 |
| ·Duane 模型的数学表达 | 第34页 |
| ·Duane 模型的优缺点 | 第34-35页 |
| ·AMSAA 模型 | 第35-36页 |
| ·AMSAA 模型的数学表达 | 第35-36页 |
| ·AMSAA 模型的优缺点 | 第36页 |
| ·Gompertz 模型及其改进型 | 第36-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第四章 军用电子硬盘的可靠性增长试验要求与方法 | 第38-46页 |
| ·可靠性增长试验的试验要求 | 第38-42页 |
| ·试验前的处理 | 第38页 |
| ·确定试验环境条件 | 第38-40页 |
| ·确定试验时间 | 第40页 |
| ·维修 | 第40页 |
| ·故障处理 | 第40页 |
| ·试验计划曲线 | 第40-41页 |
| ·试验监控 | 第41-42页 |
| ·试验截尾 | 第42页 |
| ·可靠性增长试验的图分析法 | 第42-44页 |
| ·内容和目的 | 第42页 |
| ·绘制Duane 曲线和参数估计 | 第42-43页 |
| ·绘制平均故障曲线 | 第43-44页 |
| ·可靠性增长试验的统计分析法 | 第44-45页 |
| ·内容和目的 | 第44页 |
| ·基于AMSAA 模型的可靠性增长分析 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-46页 |
| 第五章 基于复杂军用环境下电子硬盘的可靠性增长工程 | 第46-68页 |
| ·军用电子硬盘试验平台的搭建 | 第46-48页 |
| ·试验平台的整体框架 | 第46-47页 |
| ·测试设备的互连 | 第47页 |
| ·测试所需设备汇总 | 第47-48页 |
| ·复杂军用试验环境的构建和试验要求 | 第48-61页 |
| ·初始性能测试 | 第48-51页 |
| ·电应力测试 | 第51页 |
| ·温度应力测试 | 第51-58页 |
| ·振动应力测试 | 第58-61页 |
| ·可靠性增长试验中电子硬盘的测试数据分析 | 第61-67页 |
| ·军用电子硬盘的图分析方法 | 第61-63页 |
| ·军用电子硬盘的统计分析方法 | 第63-64页 |
| ·数据分析与改进 | 第64-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第六章 总结 | 第68-70页 |
| ·本文的研究成果 | 第68页 |
| ·本文需要进一步研究的工作 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第73页 |