基于DCC和JTAG的ARM硬件仿真调试器的研究与实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-20页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第10-14页 |
| ·嵌入式系统 | 第10-11页 |
| ·嵌入式处理器 | 第10-11页 |
| ·嵌入式外围设备 | 第11页 |
| ·嵌入式操作系统 | 第11页 |
| ·嵌入式应用软件 | 第11页 |
| ·嵌入式系统开发 | 第11-14页 |
| ·嵌入式系统开发流程 | 第11-12页 |
| ·嵌入式系统软件开发 | 第12-14页 |
| ·嵌入式系统调试器概述 | 第14-18页 |
| ·嵌入式系统调试器 | 第15页 |
| ·嵌入式系统调试器的分类 | 第15-18页 |
| ·硬件调试器 | 第15-17页 |
| ·软件调试器 | 第17-18页 |
| ·模拟调试器 | 第18页 |
| ·本文研究目标 | 第18-19页 |
| ·本文章节安排 | 第19-20页 |
| 第2章 JTAG原理分析 | 第20-34页 |
| ·JTAG基本原理 | 第20-25页 |
| ·JTAG边界扫描的工作原理 | 第20-21页 |
| ·JTAG接口的内部结构 | 第21-22页 |
| ·TAP控制器的状态机 | 第22-25页 |
| ·ARM中的JTAG原理 | 第25-34页 |
| ·TAP控制器、指令寄存器、数据寄存器 | 第25-27页 |
| ·ARM7TDMI的扫描链 | 第27-30页 |
| ·TAP指令 | 第30-34页 |
| 第3章 ARM片上调试原理分析 | 第34-46页 |
| ·ARM7TDMI的EmbeddedICE | 第34-40页 |
| ·EmbeddedICE结构 | 第34-36页 |
| ·实时监控单元 | 第36-37页 |
| ·外围控制单元 | 第37-39页 |
| ·调试通信通道 | 第39-40页 |
| ·DCC控制寄存器 | 第39-40页 |
| ·通过DCC通信 | 第40页 |
| ·ARM7TDMI片上调试的实现 | 第40-46页 |
| ·调试系统 | 第40-41页 |
| ·ARM7TDMI的调试模式 | 第41-43页 |
| ·暂停模式(Halt Mode) | 第42页 |
| ·监控模式(Monitor Mode) | 第42-43页 |
| ·断点和观察点 | 第43-46页 |
| ·断点 | 第43-44页 |
| ·观察点 | 第44-46页 |
| 第4章 LambdaICE的设计与实现 | 第46-65页 |
| ·总体设计 | 第46-50页 |
| ·交叉调试系统组成 | 第46-47页 |
| ·LambdaICE的运行环境 | 第47页 |
| ·LambdaICE系统结构 | 第47-50页 |
| ·JTAG接口层 | 第48页 |
| ·调试命令抽象层 | 第48-49页 |
| ·协议转换层 | 第49-50页 |
| ·运行设计 | 第50-58页 |
| ·LambdaICE总体运行流程 | 第50-51页 |
| ·LambdaICE读内存流程 | 第51-53页 |
| ·指令模拟方式读内存流程 | 第52页 |
| ·DCC方式读内存流程 | 第52-53页 |
| ·LambdaICE写内存流程 | 第53-56页 |
| ·指令模拟方式写内存流程 | 第54-55页 |
| ·DCC方式写内存流程 | 第55-56页 |
| ·利用STM指令实现高效的上下文保护流程 | 第56-57页 |
| ·利用LDM指令实现高效的上下文恢复流程 | 第57-58页 |
| ·接口设计 | 第58-60页 |
| ·JTAG接口层接口设计 | 第58页 |
| ·调试命令抽象层接口设计 | 第58-59页 |
| ·调试协议转换层接口设计 | 第59-60页 |
| ·DCC Handler的实现原理 | 第60-65页 |
| ·DCC Handler通信协议 | 第60-61页 |
| ·DCC Handler实现 | 第61-65页 |
| 第5章 LambdaICE的测试 | 第65-67页 |
| ·单元测试 | 第65页 |
| ·系统测试 | 第65-66页 |
| ·测试结果 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-70页 |
