塔板理论预测恒压模式下程序升温气相色谱保留时间
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-22页 |
| ·程序升温气相色谱法 | 第7-11页 |
| ·程序升温的定义和特点 | 第7-8页 |
| ·程序升温条件下的保留行为 | 第8-9页 |
| ·程序升温操作条件 | 第9-11页 |
| ·程序升温气相色谱法的优化 | 第11页 |
| ·气相色谱保留时间的预测 | 第11-18页 |
| ·基于色谱保留值方程的预测 | 第12-14页 |
| ·基于组分运动方程的预测 | 第14页 |
| ·基于保留指数的预测 | 第14-15页 |
| ·基于定量结构与保留关系的预测 | 第15-18页 |
| ·塔板理论及其发展 | 第18-20页 |
| ·塔板理论的基本假设 | 第18-19页 |
| ·塔板理论的发展 | 第19-20页 |
| ·本论文的主要内容和意义 | 第20-22页 |
| 第二章 保留值方程的测定 | 第22-39页 |
| ·引言 | 第22-23页 |
| ·实验部分 | 第23-25页 |
| ·实验样品 | 第23-24页 |
| ·实验仪器 | 第24页 |
| ·死时间的测定 | 第24-25页 |
| ·恒温保留时间的测定 | 第25页 |
| ·结果与讨论 | 第25-38页 |
| ·死时间的测定和计算 | 第25-26页 |
| ·容量因子k’的计算 | 第26-31页 |
| ·保留值方程的建立 | 第31-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 单阶程序升温条件下保留时间的预测 | 第39-46页 |
| ·理论基础 | 第39-40页 |
| ·实验部分 | 第40-41页 |
| ·实验样品 | 第40页 |
| ·实验仪器 | 第40页 |
| ·单阶程序升温保留时间的测定 | 第40-41页 |
| ·结果与讨论 | 第41-45页 |
| ·HP-5 柱单阶程序升温保留时间的预测 | 第41-43页 |
| ·FFAP 柱单阶程序升温保留时间的预测 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 多阶程序升温条件下保留时间的预测 | 第46-57页 |
| ·引言 | 第46-47页 |
| ·实验部分 | 第47-48页 |
| ·实验样品 | 第47页 |
| ·实验仪器 | 第47页 |
| ·多组分样品的配制 | 第47页 |
| ·多阶程序升温保留时间的测定 | 第47-48页 |
| ·结果与讨论 | 第48-56页 |
| ·单组分样品多阶程序升温保留时间的预测 | 第48-52页 |
| ·多组分样品多阶程序升温保留时间的预测 | 第52-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 全文结论 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
