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SRAM单粒子效应评估方法研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
第1章 引言第8-13页
   ·研究背景第8-9页
   ·研究现状第9-11页
   ·本文研究的主要内容第11-12页
   ·论文结构第12-13页
第2章 单粒子效应概述第13-23页
   ·空间辐射环境第13-15页
   ·单粒子效应的物理机制第15-17页
     ·能量沉积第15-16页
     ·电荷收集第16-17页
   ·单粒子效应的分类第17-19页
   ·单粒子效应的评估方法第19-22页
     ·地面模拟实验第20-22页
     ·计算机仿真模拟第22页
   ·本章小结第22-23页
第3章 TCAD 和GEANT4 在单粒子效应中的应用第23-35页
   ·TCAD 在单粒子效应评估中的应用第23-31页
     ·TCAD 仿真模拟的物理基础第23-25页
     ·TCAD 模拟的主要流程第25-31页
   ·GEANT4 在单粒子效应中的应用第31-34页
     ·蒙特卡罗方法概述第31-32页
     ·Geant4 工具包概述第32页
     ·Geant4 的基本原理第32-34页
   ·本章小结第34-35页
第4章 基于TCAD 和GEANT4 的单粒子效应评估方法第35-44页
   ·前言第35页
   ·重离子单粒子效应的评估第35-39页
     ·模拟方法第35-37页
     ·器件模型第37-38页
     ·模拟结果第38-39页
   ·质子单粒子效应的评估第39-43页
     ·模拟方法第39-40页
     ·程序采用的物理过程和核反应模型第40-41页
     ·C-S 减方差方法第41-42页
     ·模拟结果第42-43页
   ·本章小结第43-44页
第5章 诱发单粒子多位翻转的电荷分享研究第44-50页
   ·前言第44页
   ·器件模型第44-46页
   ·模拟结果与分析第46-48页
     ·普通NMOS 管的电荷收集第46-48页
     ·节点隔离NMOS 管的电荷收集第48页
   ·结论第48-50页
第6章 空间单粒子效应评估系统初步第50-61页
   ·前言第50-51页
   ·单粒子在轨翻转率计算第51-55页
   ·计算实例第55-60页
     ·空间环境第55-57页
     ·屏蔽分析第57-58页
     ·在轨翻转率第58-60页
   ·本章小结第60-61页
第7章 总结与展望第61-64页
   ·总结第61-62页
   ·展望第62-64页
参考文献第64-68页
发表文章目录第68-69页
致谢第69页

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