不等高结构件激光近净成形闭环控制研究
| 中文摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 国内研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.2 国外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 研究目的及内容 | 第16-19页 |
| 1.3.1 本文研究目的 | 第16页 |
| 1.3.2 本文研究思路 | 第16-17页 |
| 1.3.3 本文研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 搭建激光近净闭环成形系统平台 | 第19-29页 |
| 2.1 激光近净成形系统 | 第19-26页 |
| 2.1.1 激光器 | 第20-21页 |
| 2.1.2 送粉系统 | 第21-22页 |
| 2.1.3 运动机构 | 第22页 |
| 2.1.4 激光熔覆头 | 第22-25页 |
| 2.1.5 层高测量系统 | 第25-26页 |
| 2.2 实验材料和热处理装置 | 第26-27页 |
| 2.2.1 实验材料 | 第26-27页 |
| 2.2.2 热处理设备 | 第27页 |
| 2.3 成形件检测设备 | 第27-28页 |
| 2.3.1 成形件试样处理 | 第27-28页 |
| 2.3.2 组织分析和性能检测 | 第28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 成形工艺及堆高闭环控制研究 | 第29-45页 |
| 3.1 激光熔覆成形工艺参数的研究 | 第29-36页 |
| 3.1.1 激光输出功率对熔覆层形貌的影响 | 第30-32页 |
| 3.1.2 激光扫描速度对熔覆层形貌的影响 | 第32-33页 |
| 3.1.3 离焦量对熔覆层形貌的影响 | 第33-36页 |
| 3.2 激光熔覆成形堆高闭环控制研究 | 第36-44页 |
| 3.2.1 堆高控制器的设计 | 第37-39页 |
| 3.2.2 堆高P(比例)控制器的实现 | 第39-42页 |
| 3.2.3 堆高PI(比例-积分)控制器的实现 | 第42-44页 |
| 3.3 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 不等高结构件闭环成形关键技术 | 第45-54页 |
| 4.1 首尾空行程衔接的扫描路径 | 第45-46页 |
| 4.2 不等高熔道分段变速一次性熔覆成形 | 第46-50页 |
| 4.2.1 不等高熔道的成形方法 | 第46-47页 |
| 4.2.2 不等高熔道的路径规划 | 第47-48页 |
| 4.2.3 不等高熔道的模型搭建 | 第48-49页 |
| 4.2.4 不等高熔道工艺参数匹配 | 第49页 |
| 4.2.5 不等高熔道成形及检测 | 第49-50页 |
| 4.3 定离焦闭环成形技术 | 第50-53页 |
| 4.3.1 层高测量装置的实现原理 | 第50-52页 |
| 4.3.2 基于层高测量装置的定离焦成形技术 | 第52-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 不等高结构件闭环成形研究 | 第54-71页 |
| 5.1 扇形薄壁件闭环近净成形研究 | 第54-66页 |
| 5.1.1 扇形薄壁件的成形方案设计 | 第54-59页 |
| 5.1.2 扇形薄壁结构件的成形过程 | 第59-62页 |
| 5.1.3 成形件形貌和组织检测分析 | 第62-66页 |
| 5.2 弯管薄壁件闭环近净成形研究 | 第66-70页 |
| 5.2.1 弯管薄壁件的路径规划 | 第66-67页 |
| 5.2.2 弯管薄壁件成形过程 | 第67-68页 |
| 5.2.3 弯管薄壁件尺寸和硬度检测 | 第68-70页 |
| 5.3 本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 结论及展望 | 第71-73页 |
| 6.1 结论 | 第71-72页 |
| 6.2 展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-78页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文及科研成果 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
