基于五探头的符合测量方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 本文主要工作内容 | 第12-14页 |
| 第2章 符合测量技术 | 第14-22页 |
| 2.1 符合法的基本原理 | 第14-15页 |
| 2.1.1 真符合与偶然符合 | 第14-15页 |
| 2.1.2 反符合 | 第15页 |
| 2.2 符合测量中的关系式 | 第15-18页 |
| 2.2.1 符合分辨时间 | 第15-16页 |
| 2.2.2 符合分辨时间与偶然符合的关系 | 第16-17页 |
| 2.2.3 真偶符合比 | 第17-18页 |
| 2.2.4 符合计数的相对误差公式 | 第18页 |
| 2.3 符合效率与时间分辨本领 | 第18-20页 |
| 2.4 符合测量方法中的符合电路 | 第20-21页 |
| 2.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 基于五探头符合测量实验方案 | 第22-28页 |
| 3.1 γ-γ能谱符合法测量13N基本原理 | 第22-23页 |
| 3.2 符合法探测取样装置 | 第23-24页 |
| 3.3 实验方案 | 第24-26页 |
| 3.3.1 基于NIM插件实验方案 | 第24-26页 |
| 3.3.2 基于多路符合电路实验方案 | 第26页 |
| 3.4 本章小结 | 第26-28页 |
| 第4章 多路符合电路系统设计 | 第28-48页 |
| 4.1 基于集成门电路的设计方案 | 第28-33页 |
| 4.1.1 设计思想与电路结构 | 第28-30页 |
| 4.1.2 工作原理简述 | 第30-33页 |
| 4.2 主要性能测试与讨论 | 第33-34页 |
| 4.2.1 灵敏度测试 | 第33页 |
| 4.2.2 可靠性测试 | 第33页 |
| 4.2.3 稳定性测试 | 第33-34页 |
| 4.3 单片机控制电路 | 第34-37页 |
| 4.3.1 晶振电路 | 第35-36页 |
| 4.3.2 数码管驱动显示电路 | 第36页 |
| 4.3.3 单片机与PC机通信接口电路 | 第36-37页 |
| 4.4 软件程序设计 | 第37-42页 |
| 4.4.1 单片机主程序设计 | 第37-38页 |
| 4.4.2 程序语言选择Keil软件介绍 | 第38页 |
| 4.4.3 定时计数程序 | 第38-40页 |
| 4.4.4 数码管显示程序 | 第40-41页 |
| 4.4.5 串口数据发送程序 | 第41-42页 |
| 4.5 PC机软件界面设计 | 第42-44页 |
| 4.6 系统测试 | 第44-46页 |
| 4.7 本章小结 | 第46-48页 |
| 第5章 γ-γ能谱符合法测量~(13)N实验 | 第48-58页 |
| 5.1 本底符合测量 | 第48-50页 |
| 5.2 符合效率实验测量 | 第50-55页 |
| 5.2.1 ~(13)N核素的产生 | 第50-51页 |
| 5.2.2 γ-γ能谱符合测量实验中的修正因子 | 第51-52页 |
| 5.2.3 基于NIM插件符合效率实验测量 | 第52-54页 |
| 5.2.4 基于多路符合电路符合效率测量 | 第54-55页 |
| 5.3 本章小结 | 第55-58页 |
| 第6章 总结与展望 | 第58-60页 |
| 6.1 总结 | 第58-59页 |
| 6.2 展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士期间发表学术论文 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
