高压下过渡金属硫族化合物的结构和性质研究
| 中文摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第12-28页 |
| 1.1 二维层状材料简介 | 第12-17页 |
| 1.2 层状过渡金属硫族化合物简介 | 第17-19页 |
| 1.3 高压科学 | 第19-25页 |
| 1.3.1 高压科学简介 | 第19-20页 |
| 1.3.2 高压实验技术进展 | 第20-23页 |
| 1.3.3 高压实验测试方法简介 | 第23-25页 |
| 1.3.3.1 拉曼散射光谱测试技术 | 第23-24页 |
| 1.3.3.2 荧光光谱测试技术 | 第24-25页 |
| 1.3.3.3 紫外可见吸收光谱测试技术 | 第25页 |
| 1.3.3.4 CASTEP软件包简介 | 第25页 |
| 1.4 本论文的选题目的及意义 | 第25-26页 |
| 1.5 本论文各章节主要内容 | 第26-28页 |
| 第二章 超薄层MoS_2的高压结构与性质研究 | 第28-38页 |
| 2.1 MoS_2研究背景 | 第28-29页 |
| 2.2 实验方法 | 第29-30页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第30-36页 |
| 2.3.1 超薄层MoS_2厚度表征 | 第30-32页 |
| 2.3.2 高压晶格结构分析 | 第32-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-38页 |
| 第三章 多层ReS_2的高压结构与性质研究 | 第38-52页 |
| 3.1 ReS_2研究背景 | 第38-40页 |
| 3.2 实验方法 | 第40页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第40-51页 |
| 3.3.1 高压晶格结构分析 | 第40-44页 |
| 3.3.2 高压电子结构分析 | 第44-51页 |
| 3.4 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 单层ReS_2的高压结构与性质研究 | 第52-62页 |
| 4.1 单层ReS_2研究背景 | 第52-53页 |
| 4.2 实验方法 | 第53页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第53-59页 |
| 4.3.1 超薄层ReS_2厚度表征 | 第53-55页 |
| 4.3.2 高压晶格结构分析 | 第55-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-62页 |
| 第五章 多层ZrS_3的高压结构与性质研究 | 第62-72页 |
| 5.1 ZrS_3研究背景 | 第62-63页 |
| 5.2 实验方法 | 第63-64页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第64-70页 |
| 5.3.1 多层ZrS_3高压晶格结构分析 | 第64-69页 |
| 5.3.2 多层ZrS_3高压电子结构分析 | 第69-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-88页 |
| 作者简介 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
