摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 引言 | 第9-13页 |
1.1 粒子物理中的标准模型 | 第9-10页 |
1.2 粲物理 | 第10-13页 |
第二章 北京正负电子对撞机BEPCⅡ和北京谱仪BESⅢ | 第13-23页 |
2.1 粒子物理实验介绍 | 第13-14页 |
2.2 北京正负电子对撞机 | 第14-15页 |
2.3 北管京谱仪 | 第15-20页 |
2.3.1 束流 | 第16-17页 |
2.3.2 主漂移室 | 第17-18页 |
2.3.3 飞行时间计数器 | 第18-19页 |
2.3.4 电磁量能器 | 第19页 |
2.3.5 μ探测器子 | 第19-20页 |
2.3.6 触发判断系统 | 第20页 |
2.3.7 数据获取系统 | 第20页 |
2.4 BESⅢ离线软件系统 | 第20-22页 |
2.4.1 BESⅢ主框架系统 | 第21页 |
2.4.2 BESⅢ模拟系统 | 第21页 |
2.4.3 BESⅢ重建系统 | 第21页 |
2.4.4 BESⅢ刻度系统 | 第21-22页 |
2.5 小结 | 第22-23页 |
第三章 D_s介子的单标记 | 第23-31页 |
3.1 事例筛选 | 第24-25页 |
3.1.1 带电径迹的筛选 | 第24页 |
3.1.2 K和π的PID | 第24-25页 |
3.1.3 π~0的筛选 | 第25页 |
3.1.4 K_s~0的筛选 | 第25页 |
3.1.5 光子的选择 | 第25页 |
3.2 分析流程 | 第25-27页 |
3.3 单标记效率 | 第27-31页 |
第四章 信号事例的数目 | 第31-33页 |
4.1 M(D_s)分布的拟合 | 第31页 |
4.2 本底分析 | 第31-33页 |
第五章 D_s到信号的分支比 | 第33-36页 |
5.1 单标记方法 | 第33页 |
5.2 探测效率 | 第33页 |
5.3 分支比 | 第33-34页 |
5.4 系统误差 | 第34-36页 |
5.4.1 tracking和PID带来的误差 | 第34-35页 |
5.4.2 RM(D_s~+),M(D_sγ)和△M_(recoil)(D_sγ)带来的误差 | 第35页 |
5.4.3 本底形状模型带来的误差 | 第35页 |
5.4.4 拟合区间带来的误差 | 第35-36页 |
第六章 总结和展望 | 第36-37页 |
参考文献 | 第37-38页 |
致谢 | 第38页 |