摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第8-13页 |
1.1 课题背景与研究意义 | 第8-9页 |
1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
1.2.1 绝缘子检测技术研究现状 | 第9-11页 |
1.2.2 红外热像法绝缘子检测技术现状 | 第11页 |
1.3 课题来源 | 第11-12页 |
1.4 主要内容与创新点 | 第12页 |
1.5 本章小结 | 第12-13页 |
第2章 劣化绝缘子发热理论及红外检测原理 | 第13-24页 |
2.1 劣化绝缘子发热机理 | 第13-16页 |
2.2 红外热像检测技术原理 | 第16-23页 |
2.2.1 红外热成像技术原理 | 第16-19页 |
2.2.2 红外热像仪的工作原理和性能指标 | 第19-21页 |
2.2.3 电气设备红外热像检测规范 | 第21-22页 |
2.2.4 绝缘子红外热像检测注意事项 | 第22-23页 |
2.3 本章小结 | 第23-24页 |
第3章 劣化绝缘子红外热像检测技术实验室研究 | 第24-53页 |
3.1 实验概述 | 第24-25页 |
3.1.1 实验目的 | 第24页 |
3.1.2 实验流程大纲 | 第24-25页 |
3.2 实验背景 | 第25页 |
3.3 实验场地及设备介绍 | 第25-29页 |
3.3.1 实验室场地 | 第26-27页 |
3.3.2 实验室设备 | 第27页 |
3.3.3 实验原理 | 第27-28页 |
3.3.4 实验要求 | 第28-29页 |
3.4 实验方案设计 | 第29-34页 |
3.4.1 实验准备 | 第29-32页 |
3.4.2 实验方法 | 第32-34页 |
3.5 实验结果 | 第34-48页 |
3.5.1 正常绝缘子红外热像采集实验 | 第34-36页 |
3.5.2 环境因素变化对绝缘子红外检测的影响 | 第36-41页 |
3.5.3 劣化绝缘子处于不同位置对红外检测的影响 | 第41-47页 |
3.5.4 劣化绝缘子阻值的改变对红外热像检测的影响 | 第47-48页 |
3.6 实验结果分析与新方法的提出 | 第48-52页 |
3.6.1 红外热像检测技术实验室模拟实验结果分析 | 第48-49页 |
3.6.2 红外热像技术检测劣化绝缘子的新方法 | 第49-52页 |
3.7 本章小结 | 第52-53页 |
第4章 改进型红外热像劣化绝缘子诊断方法现场验证 | 第53-57页 |
4.1 变电站内 220KV 绝缘子实例分析 | 第53-55页 |
4.2 几种方法对比分析 | 第55-56页 |
4.3 总结分析 | 第56页 |
4.4 本章小结 | 第56-57页 |
第5章 结论与展望 | 第57-58页 |
5.1 结论 | 第57页 |
5.2 展望 | 第57-58页 |
致谢 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-60页 |