| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 前言 | 第10-16页 |
| 1.1 岩石全分析及其重要意义 | 第10页 |
| 1.2 硅酸盐岩石分析技术发展历程 | 第10-11页 |
| 1.3 波长X射线荧光光谱法在硅酸盐岩石分析中的应用 | 第11-13页 |
| 1.4 论文研究的目的及意义 | 第13-14页 |
| 1.5 本论文的研究内容 | 第14页 |
| 1.5.1 标准物质的选取和样品的熔融 | 第14页 |
| 1.5.2 基体效应的校正 | 第14页 |
| 1.6 本论文的创新点 | 第14-16页 |
| 第二章 标准物质的选取与测量条件中背景扣除和PHD的设置 | 第16-26页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 标准物质的选取及各组分含量范围 | 第16-17页 |
| 2.3 各元素测量条件 | 第17-24页 |
| 2.3.1 背景的设置 | 第18-21页 |
| 2.3.2 PHD的设置 | 第21-24页 |
| 2.4 小结 | 第24-26页 |
| 第三章 样品熔融 | 第26-32页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 实验部分 | 第26-27页 |
| 3.2.1 仪器与试剂 | 第26页 |
| 3.2.2 熔融片的制备 | 第26-27页 |
| 3.3 结果及讨论 | 第27-30页 |
| 3.3.1 熔剂的选择 | 第27页 |
| 3.3.2 样品与熔剂的稀释比例 | 第27-28页 |
| 3.3.3 氧化剂的选择 | 第28页 |
| 3.3.4 样品中SO_3的测试 | 第28-29页 |
| 3.3.5 复杂样品的熔融 | 第29-30页 |
| 3.3.6 熔样中需注意的几个问题 | 第30页 |
| 3.4 小结 | 第30-32页 |
| 第四章 基体效应和谱线重叠校正 | 第32-48页 |
| 4.1 引言 | 第32页 |
| 4.2 基体效应校正 | 第32-36页 |
| 4.2.1 理论α系数法 | 第32页 |
| 4.2.2 DeJongh理论α系数法校正公式 | 第32-33页 |
| 4.2.3 基体效应中对烧失量的处理 | 第33-34页 |
| 4.2.4 谱线重叠校正 | 第34-36页 |
| 4.3 评价标准曲线参数 | 第36-38页 |
| 4.4 校正后主次组分标准曲线 | 第38-46页 |
| 4.5 仪器漂移的校正 | 第46页 |
| 4.6 小结 | 第46-48页 |
| 第五章 检出限、精密度和准确度的验证 | 第48-56页 |
| 5.1 检出限 | 第48-49页 |
| 5.2 精密度 | 第49-50页 |
| 5.3 准确度 | 第50-51页 |
| 5.3.1 标准物质评价准确度 | 第50-51页 |
| 5.3.2 实际样品评价准确度 | 第51页 |
| 5.4 小结 | 第51-56页 |
| 第六章 结论及展望 | 第56-58页 |
| 附录：硕士期间论文发表情况 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |