双核素成像系统性能测试方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 英文缩略词含义及术语定义 | 第7-15页 |
| 1 引言 | 第15-22页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.1 双平板PET研究现状 | 第16-17页 |
| 1.2.2 Gamma相机研究现状 | 第17-18页 |
| 1.2.3 性能测试方法研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 论文选题 | 第19-20页 |
| 1.4 论文章节安排 | 第20-22页 |
| 2 双核素成像系统 | 第22-30页 |
| 2.1 系统成像原理 | 第22-27页 |
| 2.1.1 正电子成像基础 | 第22-26页 |
| 2.1.2 单光子成像基础 | 第26页 |
| 2.1.3 射线与物质的相互作用 | 第26-27页 |
| 2.2 双核素系统结构 | 第27-28页 |
| 2.3 双核素系统性能指标 | 第28-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 3 系统性能测试方案与系统测试 | 第30-71页 |
| 3.1 空间分辨率 | 第30-42页 |
| 3.1.1 概述 | 第30页 |
| 3.1.2 测试方案 | 第30-33页 |
| 3.1.2.1 放射源 | 第30-31页 |
| 3.1.2.2 数据采集 | 第31-32页 |
| 3.1.2.3 数据处理 | 第32-33页 |
| 3.1.3 系统测试结果与分析 | 第33-42页 |
| 3.1.3.1 测试结果 | 第33-38页 |
| 3.1.3.2 结果分析 | 第38-42页 |
| 3.2 散射分数,计数损失和随机符合测量 | 第42-60页 |
| 3.2.1 概述 | 第43-44页 |
| 3.2.2 测试方案 | 第44-52页 |
| 3.2.2.1 放射源设置 | 第44-45页 |
| 3.2.2.2 数据采集 | 第45-46页 |
| 3.3.2.3 数据处理 | 第46-48页 |
| 3.2.2.4 数据处理与散射估计 | 第48-51页 |
| 3.2.2.5 计算 | 第51-52页 |
| 3.2.3 方法验证 | 第52-59页 |
| 3.2.3.1 Gate模拟工具介绍 | 第52-53页 |
| 3.2.3.2 Gate模拟流程 | 第53-55页 |
| 3.2.3.3 算法正确性分析 | 第55-58页 |
| 3.2.3.4 不同板间距计数率能力分析 | 第58-59页 |
| 3.2.4 系统测试结果 | 第59-60页 |
| 3.2.4.1 计数率曲线图 | 第59-60页 |
| 3.2.4.2 峰计数率值 | 第60页 |
| 3.2.4.3 散射分数 | 第60页 |
| 3.3 灵敏度 | 第60-64页 |
| 3.3.1 概述 | 第61页 |
| 3.3.2 测试方案 | 第61-63页 |
| 3.3.2.1 数据采集 | 第61-62页 |
| 3.3.2.2 数据处理与计算 | 第62-63页 |
| 3.3.3 测试结果 | 第63-64页 |
| 3.4 γ相机系统空间分辨率 | 第64-67页 |
| 3.4.1 概述 | 第64页 |
| 3.4.2 测试方案 | 第64-66页 |
| 3.4.2.1 数据采集 | 第64-65页 |
| 3.4.2.2 数据处理 | 第65-66页 |
| 3.4.3 测试结果 | 第66-67页 |
| 3.5 γ相机系统灵敏度 | 第67-71页 |
| 3.5.1 概述 | 第67-68页 |
| 3.5.2 测试方案 | 第68-70页 |
| 3.5.2.1 放射源 | 第68页 |
| 3.5.2.2 数据采集 | 第68-69页 |
| 3.5.2.3 计算与分析 | 第69-70页 |
| 3.5.3 测试结果 | 第70-71页 |
| 4 总结与展望 | 第71-74页 |
| 4.1 主要研究成果与创新点 | 第71-72页 |
| 4.1.1 研究内容 | 第71-72页 |
| 4.1.2 创新点 | 第72页 |
| 4.2 后续工作展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-79页 |
| 个人简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
