| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究目的与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 激光诱导击穿光谱技术的发展历史 | 第11-14页 |
| 1.2.1 国内发展现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国外发展现状 | 第12-14页 |
| 1.3 全文研究内容及章节安排 | 第14-15页 |
| 1.4 本章小节 | 第15-16页 |
| 第2章 LIBS系统平台的搭建 | 第16-29页 |
| 2.1 LIBS检测装置的构成 | 第16-17页 |
| 2.2 LIBS检测装置的光路设计 | 第17-20页 |
| 2.2.1 系统设计思路 | 第17-19页 |
| 2.2.2 等离子体轴向成像与样品定位 | 第19页 |
| 2.2.3 样品表面横向成像与检测 | 第19-20页 |
| 2.3 光谱收集与等离子体图像采集 | 第20-21页 |
| 2.4 测温电路设计 | 第21-26页 |
| 2.4.1 光电传感器设计 | 第22-23页 |
| 2.4.2 运算放大电路 | 第23页 |
| 2.4.3 滤波电路 | 第23-24页 |
| 2.4.4 A/D转换与微处理器 | 第24页 |
| 2.4.5 上位机硬件电路图 | 第24-25页 |
| 2.4.6 测温过程 | 第25-26页 |
| 2.5 系统平台测试 | 第26-28页 |
| 2.6 本章小节 | 第28-29页 |
| 第3章 样品温度变化对LIBS检测影响研究 | 第29-41页 |
| 3.1 等离子体光谱的产生机理研究 | 第29-31页 |
| 3.2 实验过程 | 第31-32页 |
| 3.3 实验现象与结论 | 第32-39页 |
| 3.3.1 冶炼过程中温度变化分析 | 第32-33页 |
| 3.3.2 样本温度变化对金属元素谱线强度影响分析 | 第33-36页 |
| 3.3.3 样本温度变化对非金属元素谱线强度影响分析 | 第36-37页 |
| 3.3.4 样本温度变化对等离子体的影响 | 第37-38页 |
| 3.3.5 样本温度变化对烧蚀量的影响 | 第38-39页 |
| 3.4 实验结论 | 第39页 |
| 3.5 本章小节 | 第39-41页 |
| 第4章 温度补偿研究 | 第41-55页 |
| 4.1 LIBS定量分析的基础理论 | 第41-42页 |
| 4.1.1 局部热平衡假设 | 第41页 |
| 4.1.2 日冕模型 | 第41页 |
| 4.1.3 基体效应 | 第41-42页 |
| 4.2 定量分析方法介绍 | 第42-46页 |
| 4.2.1 偏最小二乘法在LIBS定量分析中的应用 | 第43页 |
| 4.2.2 偏最小二乘法基本原理 | 第43-45页 |
| 4.2.3 偏最小二乘模型定标法 | 第45-46页 |
| 4.3 谱线强度变化机理 | 第46-47页 |
| 4.4 电子温度的计算 | 第47-48页 |
| 4.5 温度补偿公式的建立与实验验证 | 第48-54页 |
| 4.5.1 温度补偿公式建立 | 第48-51页 |
| 4.5.2 实验验证 | 第51-54页 |
| 4.6 本章小节 | 第54-55页 |
| 第5章 冶炼检测控制过程设计 | 第55-62页 |
| 5.1 冶炼控制流程 | 第55-56页 |
| 5.2 集成D/A转换器 | 第56-57页 |
| 5.3 标准信号 | 第57-58页 |
| 5.4 控制柜与步进电机 | 第58-59页 |
| 5.5 将LIBS技术应用到冶炼过程效果研究 | 第59-61页 |
| 5.5.1 实验参数设置 | 第59-60页 |
| 5.5.2 实验数据与结论 | 第60-61页 |
| 5.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 第6章 结论 | 第62-64页 |
| 6.1 工作总结 | 第62-63页 |
| 6.2 研究展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 作者简介 | 第69-70页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第70页 |
