基于SH-PermEBIT钨光谱探测研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第8-14页 |
| 1.1 背景 | 第8-12页 |
| 1.2 EBIT工作原理 | 第12-13页 |
| 1.3 低能EBIT发展现状 | 第13-14页 |
| 第二章 SH-PermEBIT调试及低能下限拓展 | 第14-28页 |
| 2.1 SH-PermEBIT | 第14-15页 |
| 2.2 SH-PermEBIT调试 | 第15-23页 |
| 2.3 SH-PermEBIT低能下限拓展 | 第23-27页 |
| 2.4 小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基于SH-PermEBIT光谱学平台调试 | 第28-50页 |
| 3.1 软X射线及极紫外光谱学平台调试 | 第28-39页 |
| 3.1.1 平焦场光谱仪结构及离线测试 | 第28-33页 |
| 3.1.2 Ar的EUV光谱探测 | 第33-39页 |
| 3.2 紫外及可见光光谱学平台调试 | 第39-48页 |
| 3.2.1 Mcpherson单色仪 | 第39-44页 |
| 3.2.2 Andor Shamrock光谱仪 | 第44-48页 |
| 3.3 小结 | 第48-50页 |
| 第四章 钨光谱探测研究 | 第50-84页 |
| 4.1 钨元素注入 | 第50-57页 |
| 4.1.1 金属丝插入 | 第50-56页 |
| 4.1.2 六羰基钨注入 | 第56-57页 |
| 4.2 钨光谱探测研究 | 第57-83页 |
| 4.2.1 类银钨离子光谱实验研究 | 第57-67页 |
| 4.2.2 类镉钨离子光谱实验研究 | 第67-79页 |
| 4.2.3 类铟钨离子光谱实验研究 | 第79-83页 |
| 4.3 小结 | 第83-84页 |
| 附录1 | 第84-86页 |
| 总结 | 第86-88页 |
| 文章列表 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-98页 |
| 致谢 | 第98-99页 |
