| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 插图索引 | 第11-13页 |
| 表格索引 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-23页 |
| 1.1 引言 | 第16-18页 |
| 1.2 SISO天线的性能检测评估方法 | 第18页 |
| 1.3 MIMO天线的性能检测评估方法研究现状 | 第18-20页 |
| 1.3.1 无源MIMO天线性能检测评估 | 第19页 |
| 1.3.2 有源MIMO天线性能检测评估 | 第19-20页 |
| 1.4 创新性工作和章节安排 | 第20-23页 |
| 第二章 多天线终端传统射频参数测试方案设计 | 第23-32页 |
| 2.1 引言 | 第23-24页 |
| 2.2 多天线终端接收灵敏度测试方案 | 第24-29页 |
| 2.2.1 传统接收灵敏度测试系统 | 第24-25页 |
| 2.2.2 多天线终端灵敏度测试方案 | 第25-29页 |
| 2.3 测量结果的比较 | 第29-31页 |
| 2.4 结论 | 第31-32页 |
| 第三章 基于方向图测量的无源MIMO天线性能评估 | 第32-45页 |
| 3.1 引言 | 第32-34页 |
| 3.2 MIMO传输模型及信道容量 | 第34-36页 |
| 3.3 MIMO天线方向图与MIMO信道统计特性 | 第36-38页 |
| 3.4 无源MIMO天线方向图测试及性能评估方案 | 第38-39页 |
| 3.5 测试结果 | 第39-44页 |
| 3.6 结论 | 第44-45页 |
| 第四章 有源MIMO终端OTA测试方案的设计 | 第45-67页 |
| 4.1 引言 | 第45-47页 |
| 4.2 基于多探头暗室的二维自定义信道模型测试方案 | 第47-59页 |
| 4.2.1 多探头暗室及几何信道模型 | 第47-51页 |
| 4.2.2 几何信道模型在多探头暗室中的仿真方法 | 第51-53页 |
| 4.2.3 多探头暗室中OTA天线数目的优化及双簇信道模型 | 第53-59页 |
| 4.3 二维多探头暗室中的三维信道仿真测试方案 | 第59-62页 |
| 4.4 参考测量天线测试结果 | 第62-65页 |
| 4.5 结论 | 第65-67页 |
| 第五章 TD-LTE系统的OTA测试解决方案 | 第67-87页 |
| 5.1 引言 | 第67-68页 |
| 5.2 多探头全电波暗室测试系统 | 第68-81页 |
| 5.2.1 全电波暗室测试系统结构 | 第68页 |
| 5.2.2 MIMO测试系统及其校准验证 | 第68-80页 |
| 5.2.3 SISO测试系统及其关键配置 | 第80-81页 |
| 5.3 TD-LTE终端测试结果与分析 | 第81-83页 |
| 5.3.1 SISO OTA测试结果及分析 | 第81页 |
| 5.3.2 MIMO OTA测试结果及分析 | 第81-83页 |
| 5.4 结论 | 第83-87页 |
| 结束语 | 第87-89页 |
| 参考文献 | 第89-94页 |
| 攻读博士学位期间取得的研究成果 | 第94-95页 |
| 致谢 | 第95-96页 |
| 作者简介 | 第96页 |