| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 粒子场的测量意义 | 第9页 |
| 1.2 干涉粒子成像测量(IPI)技术的国内外发展状况 | 第9-12页 |
| 1.3 课题来源及论文的主要工作 | 第12页 |
| 1.4 小结 | 第12-13页 |
| 第二章 干涉粒子成像测量原理与测量系统分析 | 第13-28页 |
| 2.1 粒子散射光强分布计算 | 第13-15页 |
| 2.2 IPI 成像基本原理 | 第15-20页 |
| 2.2.1 单光束照射 IPI 测量公式 | 第16-17页 |
| 2.2.2 IPI 测量系统放大倍率校正 | 第17-19页 |
| 2.2.3 双光束照射 IPI 测量公式 | 第19-20页 |
| 2.3 双光束照射 IPI 测量系统分析 | 第20-26页 |
| 2.3.1 可测粒子直径范围 | 第20-23页 |
| 2.3.2 粒径测量不确定度分析 | 第23-26页 |
| 2.4 粒子速度测量基本原理 | 第26页 |
| 2.5 小结 | 第26-28页 |
| 第三章 粒子离焦像与聚焦像图像处理算法 | 第28-58页 |
| 3.1 引言 | 第28-29页 |
| 3.2 粒子离焦像处理算法 | 第29-45页 |
| 3.2.1 干涉条纹图定位算法 | 第30页 |
| 3.2.2 基于傅里叶变换和 m-Rife 的条纹频率提取算法 | 第30-31页 |
| 3.2.3 数值模拟分析 | 第31-45页 |
| 3.3 粒子聚焦像处理算法 | 第45-54页 |
| 3.3.1 聚焦像定位算法 | 第46-48页 |
| 3.3.2 两点像之间的距离提取方法 | 第48-49页 |
| 3.3.3 数值模拟分析 | 第49-54页 |
| 3.4 粒子速度测量 | 第54-57页 |
| 3.4.1 粒子离焦像速度模拟测量 | 第55页 |
| 3.4.2 粒子聚焦像速度模拟测量 | 第55-57页 |
| 3.5 小结 | 第57-58页 |
| 第四章 标准粒子尺寸与速度测量 | 第58-72页 |
| 4.1 双光路 IPI 实验光路系统搭建 | 第58-59页 |
| 4.2 标准粒子场测量 | 第59-70页 |
| 4.2.1 粒子尺寸测量 | 第59-68页 |
| 4.2.2 粒子速度测量 | 第68-70页 |
| 4.3 小结 | 第70-72页 |
| 第五章 总结与展望 | 第72-74页 |
| 5.1 论文研究成果 | 第72-73页 |
| 5.2 研究工作展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-79页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |