基于CMOS工艺高稳定性低压差线性稳压器的设计
中文摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
第1章 绪论 | 第7-12页 |
1.1 课题研究的目的与意义 | 第7-8页 |
1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第8-10页 |
1.3 论文内容与安排 | 第10-12页 |
第2章 低压差线性稳压器工作原理 | 第12-19页 |
2.1 低压差线性稳压器的基本结构 | 第12-13页 |
2.2 低压差线性稳压器主要性能参数 | 第13-18页 |
2.3 本章小结 | 第18-19页 |
第3章 低压差线性稳压器子模块设计 | 第19-46页 |
3.1 带隙基准电路设计 | 第19-30页 |
3.1.1 带隙基准电路工作原理 | 第19-21页 |
3.1.2 带隙基准电路设计 | 第21-23页 |
3.1.3 带隙基准电路仿真 | 第23-30页 |
3.2 误差放大器电路设计 | 第30-39页 |
3.3 功率调整管设计 | 第39-41页 |
3.4 电阻反馈网络设计 | 第41页 |
3.5 摆率增强电路设计 | 第41-45页 |
3.6 本章小结 | 第45-46页 |
第4章 低压差线性稳压器整体仿真 | 第46-53页 |
4.1 负载调整率 | 第46-47页 |
4.2 线性调整率 | 第47-48页 |
4.3 温度特性 | 第48-49页 |
4.4 系统稳定性 | 第49页 |
4.5 电源电压抑制比 | 第49-50页 |
4.6 静态电流 | 第50-51页 |
4.7 输出噪声电压 | 第51-52页 |
4.8 本章小结 | 第52-53页 |
第5章 低压差线性稳压器版图设计 | 第53-66页 |
5.1 MOS管匹配 | 第53-59页 |
5.1.1 几何效应 | 第53-55页 |
5.1.2 扩散和刻蚀效应 | 第55-56页 |
5.1.3 热效应和应力效应 | 第56-57页 |
5.1.4 MOS管匹配规则 | 第57-59页 |
5.2 电阻和电容匹配 | 第59-62页 |
5.3 版图验证 | 第62-63页 |
5.4 低压差线性稳压器版图设计与验证 | 第63-65页 |
5.5 本章小结 | 第65-66页 |
结论 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-73页 |
致谢 | 第73-74页 |