| 摘要 | 第5-9页 |
| ABSTRACT | 第9-13页 |
| 第一章 绪论 | 第23-43页 |
| 1.1 课题来源 | 第23页 |
| 1.2 课题背景 | 第23-27页 |
| 1.2.1 燃料电池 | 第23-25页 |
| 1.2.2 质子交换膜燃料电池 | 第25-27页 |
| 1.3 质子交换膜 | 第27-36页 |
| 1.3.1 质子交换膜的作用、要求与性能参数 | 第27-30页 |
| 1.3.2 全氟磺化高分子膜 | 第30-32页 |
| 1.3.3 无氟磺化高分子膜 | 第32-36页 |
| 1.4 SPEEK质子交换膜 | 第36-39页 |
| 1.4.1 SPEEK质子交换膜的制备 | 第36-38页 |
| 1.4.2 SPEEK质子交换膜的改性 | 第38-39页 |
| 1.5 论文选题的立项依据 | 第39-41页 |
| 1.6 创新点 | 第41-43页 |
| 第二章 实验部分 | 第43-63页 |
| 2.1 实验材料及配方 | 第43-52页 |
| 2.1.1 实验材料 | 第43-44页 |
| 2.1.2 实验配方 | 第44-52页 |
| 2.1.2.1 溶剂残留含量对SPEEK质子交换膜结构与性能的影响 | 第44页 |
| 2.1.2.2 溶剂种类对SPEEK质子交换膜结构与性能的影响 | 第44-45页 |
| 2.1.2.3 SPEEK/CrPAMPS semi-IPN质子交换膜的制备与表征 | 第45-46页 |
| 2.1.2.4 SPEEK/SHNT与SPEEK/SGO质子交换膜结构与性能的表征 | 第46-51页 |
| 2.1.2.5 PWA改性的SPEEK质子交换膜的制备与表征 | 第51-52页 |
| 2.2 实验设备 | 第52-53页 |
| 2.3 实验工艺 | 第53-56页 |
| 2.3.1 溶剂残留含量对SPEEK质子交换膜结构与性能的影响 | 第53-54页 |
| 2.3.2 溶剂种类对SPEEK质子交换膜结构与性能的影响 | 第54页 |
| 2.3.3 SPEEK/CrPAMPS semi-IPN质子交换膜的制备与表征 | 第54页 |
| 2.3.4 SPEEK/SHNT与SPEEK/SGO质子交换膜结构与性能的表征 | 第54-56页 |
| 2.3.5 SPEEK/PWA质子交换膜结构与性能的表征 | 第56页 |
| 2.4 表征方法 | 第56-63页 |
| 2.4.1 扫描电子显微镜及能谱测试(SEM and EDX) | 第56-57页 |
| 2.4.2 透射电子显微镜测试(TEM) | 第57-58页 |
| 2.4.3 X射线衍射分析(XRD) | 第58页 |
| 2.4.4 傅立叶红外光谱分析(FTIR) | 第58页 |
| 2.4.5 差示扫描量热分析(DSC) | 第58-59页 |
| 2.4.6 热重分析(TGA) | 第59页 |
| 2.4.7 X射线光电子能谱分析(XPS) | 第59页 |
| 2.4.8 元素分析(EA) | 第59-60页 |
| 2.4.9 正电子湮灭寿命谱(PALS) | 第60页 |
| 2.4.10 质子交换膜性能测试 | 第60-63页 |
| 第三章 溶剂残留含量对SPEEK质子交换膜结构与性能的影响 | 第63-79页 |
| 3.1 引言 | 第63-64页 |
| 3.2 溶剂残留含量不同的SPEEK膜的结构与性能表征 | 第64-75页 |
| 3.2.1 溶剂残留含量 | 第64-66页 |
| 3.2.2 SEM和EDX分析 | 第66-69页 |
| 3.2.3 DSC分析 | 第69-71页 |
| 3.2.4 正电子湮灭分析 | 第71-72页 |
| 3.2.5 离子交换能力IEC | 第72页 |
| 3.2.6 吸水率和质子电导率 | 第72-75页 |
| 3.3 SPEEK的IEC的影响 | 第75-77页 |
| 3.4 总结 | 第77-78页 |
| 与本章内容相关文章 | 第78-79页 |
| 第四章 溶剂种类对SPEEK质子交换膜结构与性能的影响 | 第79-91页 |
| 4.1 引言 | 第79页 |
| 4.2 统一成膜温度和时间时溶剂种类对膜性能的影响 | 第79-81页 |
| 4.3 统一成膜温度和时间时溶剂种类对膜内溶剂残留含量的影响 | 第81-82页 |
| 4.4 统一溶剂残留含量时溶剂种类对膜性能的影响 | 第82-84页 |
| 4.5 统一溶剂残留含量时不同溶剂制备的SPEEK膜的表征 | 第84-90页 |
| 4.5.1 XRD分析 | 第85-86页 |
| 4.5.2 SEM分析 | 第86-88页 |
| 4.5.3 DCS分析 | 第88-90页 |
| 4.6 总结 | 第90-91页 |
| 第五章 SPEEK/CrPAMPS semi-IPN质子交换膜的制备与表征 | 第91-103页 |
| 5.1 引言 | 第91-92页 |
| 5.2 AMPS与EGDMA的含量的影响 | 第92-95页 |
| 5.3 SPEEK的磺化度的影响 | 第95-96页 |
| 5.4 溶剂残留含量的影响 | 第96-101页 |
| 5.4.1 溶剂残留量与转化率 | 第96-98页 |
| 5.4.2 质子电导率 | 第98-99页 |
| 5.4.3 吸水率 | 第99-100页 |
| 5.4.4 DSC | 第100-101页 |
| 5.4.5 SEM | 第101页 |
| 5.5 总结 | 第101-102页 |
| 与本章内容相关文章 | 第102-103页 |
| 第六章 SPEEK/SHNT与SPEEK/SGO质子交换膜的制备与表征 | 第103-125页 |
| 6.1 引言 | 第103-105页 |
| 6.2 SPEEK/SHNT质子交换膜的制备与表征 | 第105-113页 |
| 6.2.1 改性各步骤HNTs的XPS测试 | 第105-106页 |
| 6.2.2 改性各步骤HNTs的IR测试 | 第106-107页 |
| 6.2.3 改性各步骤HNTs的TEM测试 | 第107页 |
| 6.2.4 改性各步骤HNTs的TGA测试 | 第107-108页 |
| 6.2.5 接枝率测试 | 第108-109页 |
| 6.2.6 SPEEK/SHNT质子交换膜的冷冻断裂面SEM测试 | 第109-110页 |
| 6.2.7 SPEEK/SHNT质子交换膜的IEC,吸水率,质子电导率 | 第110-112页 |
| 6.2.8 SPEEK/SHNT质子交换膜在不同温度下的质子电导率和和电导率活化能 | 第112-113页 |
| 6.3 SPEEK/SGO质子交换膜的制备与表征 | 第113-123页 |
| 6.3.1 改性各步骤GO的IR测试 | 第113-114页 |
| 6.3.2 改性各步骤GO的XPS测试 | 第114-115页 |
| 6.3.3 SPEEK/SGO质子交换膜的冷冻断裂面SEM测试 | 第115-117页 |
| 6.3.4 SPEEK/SGO质子交换膜的吸水率,质子电导率,甲醇渗透率,相对选择性 | 第117-121页 |
| 6.3.5 SPEEK/SGO质子交换膜质子电导率的活化能及低湿度下的质子电导率 | 第121-123页 |
| 6.4 总结 | 第123-124页 |
| 与本章内容相关文章 | 第124-125页 |
| 第七章 SPEEK/Polydopamine/PWA质子交换膜的制备与表征 | 第125-133页 |
| 7.1 引言 | 第125-126页 |
| 7.2 SPEEK/Polydopamine/PWA质子交换膜的性能与与表征 | 第126-132页 |
| 7.2.1 膜的质子电导率及其稳定性 | 第126-129页 |
| 7.2.2 TEM | 第129-131页 |
| 7.2.3 XPS | 第131-132页 |
| 7.3 总结 | 第132-133页 |
| 第八章 结论 | 第133-135页 |
| 参考文献 | 第135-143页 |
| 致谢 | 第143-145页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第145-147页 |
| 作者和导师简介 | 第147-148页 |
| 附件 | 第148-149页 |
