摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第14-33页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第14-16页 |
1.2 高功率激光装置的发展概况 | 第16-19页 |
1.2.1 高能高功率(超)短脉冲激光装置的发展现状 | 第16-17页 |
1.2.2 短脉冲激光装置靶场光路的典型构型 | 第17-19页 |
1.3 焦斑检测定位技术的研究进展 | 第19-31页 |
1.3.1 光斑质心位置测量方法 | 第19-22页 |
1.3.2 高能激光强度分布测量技术 | 第22-29页 |
1.3.3 靶场聚焦控制系统对焦斑的控制方法 | 第29-31页 |
1.4 本文的主要研究内容 | 第31-33页 |
第2章 小尺度焦斑高精度检测技术理论研究 | 第33-59页 |
2.1 引言 | 第33页 |
2.2 CCD 与激光光斑模型 | 第33-37页 |
2.2.1 CCD 模型 | 第33-34页 |
2.2.2 光斑模型 | 第34-37页 |
2.3 小尺度焦斑精确检测技术理论模型 | 第37-40页 |
2.3.1 基于 CCD 扫描切割法质心位置检测的原理方法 | 第37-38页 |
2.3.2 CCD 二维蛇形扫描光斑强度重构法的原理方法 | 第38-40页 |
2.4 小尺度焦斑精确检测技术数值研究 | 第40-57页 |
2.4.1 基于 CCD 扫描切割法质心位置检测技术数值研究 | 第40-49页 |
2.4.2 CCD 二维蛇形扫描光斑强度重构法检测技术数值研究 | 第49-57页 |
2.5 本章小结 | 第57-59页 |
第3章 小尺度焦斑高精度检测技术实验研究 | 第59-73页 |
3.1 引言 | 第59页 |
3.2 小尺度焦斑检测实验 | 第59-61页 |
3.2.1 实验装置 | 第59-60页 |
3.2.2 CCD 线性响应测试 | 第60-61页 |
3.3 基于 CCD 扫描切割法焦斑质心位置测量实验 | 第61-62页 |
3.4 CCD 二维蛇形扫描光斑强度重构法焦斑测量实验 | 第62-65页 |
3.4.1 实验结果 | 第62-64页 |
3.4.2 误差分析 | 第64-65页 |
3.5 小尺度焦斑检测细分模型优化研究 | 第65-72页 |
3.5.1 多像元信息融合的蛇形扫描光斑重构法 | 第65-68页 |
3.5.2 多像元信息融合的蛇形扫描光斑重构法数值研究 | 第68-70页 |
3.5.3 多像元信息融合的蛇形扫描光斑重构法实验研究 | 第70-71页 |
3.5.4 CCD 像元间隙对多像元信息融合蛇形扫描光斑重构法的影响 | 第71-72页 |
3.6 本章小结 | 第72-73页 |
第4章 离轴抛物面镜聚焦控制研究 | 第73-97页 |
4.1 引言 | 第73页 |
4.2 离轴抛物面镜聚焦模型的建立 | 第73-81页 |
4.2.1 离轴抛物面镜模型 | 第73-74页 |
4.2.2 光束模型 | 第74-76页 |
4.2.3 光线追迹过程 | 第76-78页 |
4.2.4 焦斑图样的计算 | 第78-80页 |
4.2.5 光程差的计算 | 第80-81页 |
4.3 离轴抛物面镜聚焦特性影响分析 | 第81-96页 |
4.3.1 入射光束失准角度对聚焦效果的影响 | 第81-88页 |
4.3.2 入射光束发散角对聚焦效果的影响 | 第88-90页 |
4.3.3 离轴抛物面镜离轴角度的研究 | 第90-94页 |
4.3.4 衍射对离轴抛物面镜聚焦效果的影响 | 第94-96页 |
4.4 本章小结 | 第96-97页 |
第5章 小尺度焦斑精确定位集成系统研制 | 第97-118页 |
5.1 引言 | 第97页 |
5.2 小尺度焦斑精确定位系统设计 | 第97-112页 |
5.2.1 总体设计 | 第97-105页 |
5.2.2 电气控制拓扑设计 | 第105页 |
5.2.3 软件设计 | 第105-112页 |
5.3 小尺度焦斑精确定位系统实验 | 第112-117页 |
5.3.1 实验结果 | 第112-115页 |
5.3.2 精度分析 | 第115-117页 |
5.4 本章小结 | 第117-118页 |
结论 | 第118-119页 |
参考文献 | 第119-132页 |
附录一 主要器件明细 | 第132-133页 |
附录二 附表 | 第133-142页 |
攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第142-145页 |
致谢 | 第145-146页 |
个人简历 | 第146页 |