| 中文摘要 | 第5-6页 |
| 英文摘要 | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第7-20页 |
| 1．1 引言 | 第7页 |
| 1．2 二氧化硫的来源 | 第7-8页 |
| 1．3 二氧化硫的危害 | 第8-9页 |
| 1．4 二氧化硫的排放控制 | 第9页 |
| 1．5 二氧化硫处理技术简介 | 第9-19页 |
| 1．5．1 传统方法 | 第9-12页 |
| 1．5．2 最新动态 | 第12-19页 |
| 1．6 课题意义及研究内容 | 第19-20页 |
| 1．6．1 课题意义 | 第19页 |
| 1．6．2 研究的主要内容 | 第19-20页 |
| 第2章 等离子体的理论基础及机理分析 | 第20-35页 |
| 2．1 电晕放电的基本理论 | 第20-24页 |
| 2．1．1 电晕放电的起晕判据 | 第20-22页 |
| 2．1．2 电晕放电起晕电场的计算 | 第22页 |
| 2．1．3 电晕放电等离子体中电子能量分布图 | 第22-23页 |
| 2．1．4 电晕等离子体中电子密度分布 | 第23-24页 |
| 2．2 电晕放电等离子体处理二氧化硫的机理分析 | 第24-35页 |
| 2．2．1 电晕等离子体处理二氧化硫的基本过程 | 第24-25页 |
| 2．2．2 各种粒子的作用 | 第25-30页 |
| 2．2．3 钛酸钡电介质材料 | 第30-32页 |
| 2．2．4 碳化硅材料 | 第32-33页 |
| 2．2．5 高能电子、氧的等离子体及臭氧对二氧化硫的作用 | 第33-35页 |
| 第3章 等离子体法的机理性实验研究 | 第35-44页 |
| 3．1 实验设备及实验试剂 | 第35页 |
| 3．1．1 实验设备 | 第35页 |
| 3．1．2 实验试剂 | 第35页 |
| 3．2 实验工艺流程及方法 | 第35-38页 |
| 3．2．1 实验工艺流程 | 第35-37页 |
| 3．2．2 臭氧浓度的测定 | 第37-38页 |
| 3．3 实验结果及分析 | 第38-44页 |
| 3．3．1 电压与电场强度的关系 | 第38页 |
| 3．3．2 流量与流速及停留时间的关系 | 第38-39页 |
| 3．3．3 实验结果及分析 | 第39-44页 |
| 第4章 填充式电晕法去除二氧化硫的实验研究 | 第44-65页 |
| 4．1 实验设备及实验试剂 | 第44页 |
| 4．1．1 实验设备 | 第44页 |
| 4．1．2 实验试剂 | 第44页 |
| 4．2 实验工艺流程及方法 | 第44-45页 |
| 4．3 实验结果与分析 | 第45-65页 |
| 4．3．1 电场强度对空管去除效率的影响 | 第45-47页 |
| 4．3．2 气体流速对空管去除率的影响 | 第47-49页 |
| 4．3．3 二氧化硫初始浓度对去除率的影响 | 第49-51页 |
| 4．3．4 填料对二氧化硫去除率的影响 | 第51-62页 |
| 4．3．5 电极形式对二氧化硫去除率的影响 | 第62-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考资料 | 第67-70页 |