PandaX-Ⅲ实验前端读出电子学方法研究
| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第12-31页 |
| 1.1 低本底实验简介 | 第12-20页 |
| 1.1.1 低本底实验研究意义 | 第12-15页 |
| 1.1.2 低本底实验探测现状 | 第15-20页 |
| 1.2 PandaX系列实验 | 第20-25页 |
| 1.3 本论文主要内容及结构安排 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-31页 |
| 第二章 PandaX-Ⅲ实验读出需求讨论 | 第31-52页 |
| 2.1 PandaX-Ⅲ探测器介绍 | 第31-43页 |
| 2.1.1 时间投影室 | 第32-35页 |
| 2.1.2 Micromegas探测器 | 第35-43页 |
| 2.2 PandaX-Ⅲ对读出电子学的需求 | 第43-47页 |
| 2.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-52页 |
| 第三章 PandaX-Ⅲ实验读出电子学设计方案 | 第52-75页 |
| 3.1 时间投影室读出电子学调研 | 第52-69页 |
| 3.1.1 T2K实验 | 第52-57页 |
| 3.1.2 NEXT实验 | 第57-62页 |
| 3.1.3 MNOS实验 | 第62-64页 |
| 3.1.4 ALICE实验 | 第64-69页 |
| 3.2 PandaX-Ⅲ读出电子学系统方案 | 第69-71页 |
| 3.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 第四章 前端读出电子学设计方案 | 第75-112页 |
| 4.1 原型探测器读出电子学系统 | 第75-77页 |
| 4.2 前端读出板设计方案 | 第77-98页 |
| 4.2.1 ASIC芯片选型 | 第79-86页 |
| 4.2.2 其它芯片选型 | 第86-98页 |
| 4.3 丝网读出板设计方案 | 第98-104页 |
| 4.4 数据采集模块与测试软件 | 第104-106页 |
| 4.5 本章小结 | 第106-108页 |
| 参考文献 | 第108-112页 |
| 第五章 前端读出电子学性能测试 | 第112-137页 |
| 5.1 实验室测试 | 第112-128页 |
| 5.1.1 前端读出板 | 第112-124页 |
| 5.1.2 丝网读出板 | 第124-128页 |
| 5.2 Micromegas探测器联调 | 第128-132页 |
| 5.3 PandaX-Ⅲ原型探测器联调 | 第132-134页 |
| 5.4 本章小结 | 第134-135页 |
| 参考文献 | 第135-137页 |
| 第六章 总结与展望 | 第137-141页 |
| 6.1 总结 | 第137-138页 |
| 6.2 展望 | 第138-141页 |
| 附录1 FEC板实物图 | 第141-142页 |
| 附录2 MRC板实物图 | 第142-143页 |
| 附录3 测试软件界面 | 第143-144页 |
| 附录4 实验室联调现场 | 第144-145页 |
| 致谢 | 第145-147页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第147页 |
