摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-19页 |
1.1 课题来源及意义 | 第10-11页 |
1.2 复合材料无损检测技术的研究现状 | 第11-12页 |
1.3 工业 CT 三维成像国内外研究现状 | 第12-18页 |
1.4 本论文的主要研究内容 | 第18-19页 |
第2章 实验原理及方法 | 第19-27页 |
2.1 工业 CT 理论概述 | 第19-22页 |
2.1.1 工业 CT 结构与基础理论 | 第20页 |
2.1.2 工业 CT 的数学原理 | 第20-22页 |
2.2 实验设备 | 第22-25页 |
2.2.1 射线源分系统 | 第23页 |
2.2.2 探测器分系统 | 第23页 |
2.2.3 机械扫描分系统 | 第23-24页 |
2.2.4 图像处理以及安全和辅助分系统 | 第24页 |
2.2.5 系统技术指标 | 第24-25页 |
2.3 实验材料与方法 | 第25-26页 |
2.3.1 实验材料 | 第25页 |
2.3.2 实验方案 | 第25-26页 |
2.4 本章小结 | 第26-27页 |
第3章 工艺参数的选取及检测能力评价 | 第27-42页 |
3.1 检测参数的选取 | 第27-33页 |
3.1.1 透照电压、电流以及焦点尺寸的选择 | 第27-28页 |
3.1.2 放大比的选择 | 第28页 |
3.1.3 平板探测器积分时间的选择 | 第28-30页 |
3.1.4 投影幅数的选取 | 第30-31页 |
3.1.5 扫描方式的选择 | 第31-32页 |
3.1.6 检测参数的确定 | 第32-33页 |
3.2 断层图像重建参数的选择 | 第33-36页 |
3.2.1 重构方式的选择 | 第33-34页 |
3.2.2 累积系数的选择 | 第34-36页 |
3.3 设备检测能力的测试 | 第36-40页 |
3.3.1 密度分辨率的测试 | 第36-39页 |
3.3.2 空间分辨率的测试 | 第39-40页 |
3.4 本章小结 | 第40-42页 |
第4章 复合材料断层图像处理 | 第42-59页 |
4.1 图像伪影的分类、成因以及去除 | 第42-43页 |
4.2 空气环伪影的去除 | 第43-47页 |
4.2.1 空气环伪影的成因 | 第43-45页 |
4.2.2 去除空气环伪影的算法基础 | 第45-47页 |
4.3 线形伪影的去除 | 第47-50页 |
4.3.1 线形伪影产生的原因 | 第48页 |
4.3.2 线形伪影去除的算法基础 | 第48-50页 |
4.4 图像中不同灰度成分的分析 | 第50-52页 |
4.4.1 密度分析 | 第50-51页 |
4.4.2 能谱分析 | 第51-52页 |
4.5 图像的阈值分割 | 第52-55页 |
4.5.1 阈值分割算法的比较 | 第52-53页 |
4.5.2 试验用阈值分割算法的提出与实验结果 | 第53-55页 |
4.6 特殊部位图像的重建 | 第55-58页 |
4.6.1 特殊部位图像的特点 | 第55-56页 |
4.6.2 图像叠加算法 | 第56-58页 |
4.7 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 复合材料三维图像处理与结构分析 | 第59-69页 |
5.1 三维重构及可视化方法的概论 | 第59页 |
5.2 三维重构方法的分类与原理 | 第59-61页 |
5.2.1 面绘制方法 | 第59-60页 |
5.2.2 体绘制方法 | 第60-61页 |
5.3 体绘制方法的三维显示与分析 | 第61-63页 |
5.3.1 体素的分类 | 第61-62页 |
5.3.2 颜色与不透明度的选择 | 第62页 |
5.3.3 图像的合成 | 第62-63页 |
5.4 颗粒增强镁基复合材料的三维重构及可视化 | 第63-64页 |
5.5 颗粒增强镁基复合材料的增强相偏聚的计算 | 第64-66页 |
5.5.1 SiC 颗粒偏聚比例的计算 | 第64页 |
5.5.2 SiC 颗粒偏聚相体积的计算 | 第64-65页 |
5.5.3 SiC 颗粒偏聚结果分析 | 第65-66页 |
5.6 颗粒增强镁基复合材料中气孔的计算 | 第66页 |
5.7 其它材料的三维重构及可视化 | 第66-68页 |
5.7.1 C/C 复合材料的三维重构及可视化 | 第66-67页 |
5.7.2 C 纤维增强的 Al 基复合材料的三维重构及可视化 | 第67-68页 |
5.8 本章小结 | 第68-69页 |
结论 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-76页 |
致谢 | 第76页 |