| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第10-15页 |
| 1.1 高能物理学与高能物理实验简介 | 第10-11页 |
| 1.2 北京正负电子对撞机-BEPCⅡ和北京谱仪-BESⅢ | 第11-13页 |
| 1.3 论文组织结构 | 第13-14页 |
| 1.4 本章小结 | 第14-15页 |
| 第二章 MDC结构和离线软件介绍 | 第15-22页 |
| 2.1 BESⅢ漂移室MDC | 第15-17页 |
| 2.1.1 漂移室工作原理 | 第15页 |
| 2.1.2 漂移室的结构 | 第15-17页 |
| 2.2 离线软件介绍 | 第17-21页 |
| 2.2.1 离线软件系统 | 第17-18页 |
| 2.2.2 漂移室离线刻度 | 第18-19页 |
| 2.2.3 漂移室径迹重建 | 第19-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-22页 |
| 第三章 MDC运行性能分析及其数据质量研究 | 第22-41页 |
| 3.1 空间分辨 | 第22-28页 |
| 3.1.1 空间分辨的定义 | 第22-23页 |
| 3.1.2 空间分辨随漂移距离的变化 | 第23-24页 |
| 3.1.3 空间分辨随层的变化 | 第24页 |
| 3.1.4 高压对空间分辨的影响 | 第24-26页 |
| 3.1.5 工作气体对空间分辨的影响 | 第26-27页 |
| 3.1.6 空间分辨随run的变化 | 第27-28页 |
| 3.2 动量分辨 | 第28-31页 |
| 3.2.1 动量分辨的定义 | 第28-29页 |
| 3.2.2 动量随径迹角度的变化 | 第29-30页 |
| 3.2.3 动量分辨随run的变化 | 第30-31页 |
| 3.3 击中效率 | 第31-34页 |
| 3.3.1 击中效率的定义 | 第31页 |
| 3.3.2 击中效率随层的分布 | 第31-32页 |
| 3.3.3 高压对击中效率的影响 | 第32页 |
| 3.3.4 工作气体对击中效率的影响 | 第32-34页 |
| 3.3.5 击中效率随run的变化 | 第34页 |
| 3.4 MDC数据质量检查中的异常 | 第34-40页 |
| 3.4.1 异常原因分析 | 第37-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 MDC噪声研究 | 第41-52页 |
| 4.1 噪声的分布 | 第41-47页 |
| 4.1.1 噪声击中率的定义 | 第41-42页 |
| 4.1.2 噪声在各层的分布 | 第42-43页 |
| 4.1.3 噪声随取数时间的分布 | 第43-44页 |
| 4.1.4 噪声随run的变化 | 第44-45页 |
| 4.1.5 各年度的噪声水平分布 | 第45-47页 |
| 4.2 时间道与时钟有关的噪声 | 第47-49页 |
| 4.3 噪声对空间分辨的影响 | 第49-50页 |
| 4.4 噪声对击中效率的影响 | 第50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 MDC信号丝老化研究 | 第52-59页 |
| 5.1 MDC老化分析 | 第52-54页 |
| 5.1.1 MDC老化介绍 | 第52-53页 |
| 5.1.2 信号丝老化对增益的影响 | 第53-54页 |
| 5.2 MDC老化对空间分辨的影响 | 第54-57页 |
| 5.3 MDC老化对击中效率的影响 | 第57-58页 |
| 5.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第六章 总结和展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63页 |