基于LabVIEW的熔断器仿真及测试系统设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 课题来源 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 课题研究的意义和目标 | 第11-12页 |
| 1.4 设计应用范围 | 第12页 |
| 1.5 本文研究的主要内容 | 第12-13页 |
| 1.6 本文章节安排 | 第13-14页 |
| 2 熔断器整体分析 | 第14-21页 |
| 2.1 熔断器概述 | 第14页 |
| 2.2 低压熔断器 | 第14-17页 |
| 2.2.1 低压熔断器种类 | 第14-16页 |
| 2.2.2 低压熔断器测试国家标准及重要参数指标 | 第16-17页 |
| 2.3 高压熔断器 | 第17-19页 |
| 2.3.1 高压限流式熔断器 | 第17-18页 |
| 2.3.2 高压跌落式熔断器 | 第18-19页 |
| 2.4 高压熔断器熔体 | 第19-20页 |
| 2.5 本章总结 | 第20-21页 |
| 3 熔断器熔体数学模型分析 | 第21-27页 |
| 3.1 熔断器燃弧前数学模型 | 第21-22页 |
| 3.2 等效电阻热电场数学模型 | 第22-25页 |
| 3.2.1 基本温度场分析 | 第22-23页 |
| 3.2.2 基本电场域分析 | 第23页 |
| 3.2.3 电场与温度场结合分析(热电耦合模型) | 第23-25页 |
| 3.3 本章总结 | 第25-27页 |
| 4 ANSYS高压熔断器仿真及数据导出 | 第27-43页 |
| 4.1 ANSYS | 第27-29页 |
| 4.1.1 ANSYS概述 | 第27页 |
| 4.1.2 ANSYS优势 | 第27-28页 |
| 4.1.3 ANSYS有限元分析步骤 | 第28-29页 |
| 4.2 熔断器的ANSYS有限元分析 | 第29-41页 |
| 4.2.1 ANSYS熔体模型的建立 | 第29-30页 |
| 4.2.2 设置材料属性 | 第30-34页 |
| 4.2.3 网格划分 | 第34-36页 |
| 4.2.4 添加载荷条件 | 第36-37页 |
| 4.2.5 设置边界条件 | 第37页 |
| 4.2.6 设置求解器 | 第37-38页 |
| 4.2.7 仿真计算结果分析 | 第38-40页 |
| 4.2.8 厂家数据对比分析 | 第40-41页 |
| 4.3 仿真数据TXT导出 | 第41-42页 |
| 4.4 本章总结 | 第42-43页 |
| 5 熔断器测试硬件系统设计 | 第43-52页 |
| 5.1 熔断器仿真及测试系统整体架构 | 第43-44页 |
| 5.2 ELVIS Ⅱ+简介 | 第44-46页 |
| 5.3 低压熔断器主测试电路 | 第46-47页 |
| 5.3.1 电压降测试 | 第46页 |
| 5.3.2 温升测试 | 第46-47页 |
| 5.3.3 耐久性测试 | 第47页 |
| 5.4 低压熔断器滤波采样辅助电路 | 第47-48页 |
| 5.5 低压熔断器测试模拟开关转换电路 | 第48-49页 |
| 5.6 熔断器测试局部硬件电路原理图 | 第49页 |
| 5.7 硬件系统核心实物图 | 第49-51页 |
| 5.8 本章小结 | 第51-52页 |
| 6 熔断器的LabVIEW测试系统平台 | 第52-63页 |
| 6.1 熔断器测试指标和精度 | 第52页 |
| 6.2 LabVIEW | 第52-55页 |
| 6.2.1 LabVIEW简介 | 第52-53页 |
| 6.2.2 LabVIEW主要使用程序模块介绍 | 第53-55页 |
| 6.3 低压熔断器测试主程序设计 | 第55-61页 |
| 6.3.1 登录界面设计 | 第55-56页 |
| 6.3.2 熔断器测试主界面设计 | 第56-59页 |
| 6.3.3 ANSYS仿真数据导入LabVIEW | 第59-60页 |
| 6.3.4 LabVIEW文件加密 | 第60-61页 |
| 6.4 数据分析 | 第61-62页 |
| 6.4.1 系统精度分析 | 第61-62页 |
| 6.4.2 熔断器测试系统总结 | 第62页 |
| 6.5 本章总结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
