| 中文摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 缩略语/符号说明 | 第9-10页 |
| 一、前言 | 第10-15页 |
| 1.1 分子印迹技术 | 第10页 |
| 1.2 分子印迹技术的原理 | 第10-11页 |
| 1.3 整体柱技术 | 第11-12页 |
| 1.4 选题依据 | 第12-15页 |
| 二、含大分子拥挤试剂的液晶分子印迹整体柱的制备及评价 | 第15-31页 |
| 2.1 引言 | 第15-17页 |
| 2.2 试剂及仪器 | 第17-18页 |
| 2.2.1 仪器 | 第17-18页 |
| 2.2.2 试剂 | 第18页 |
| 2.3 整体柱的制备方法 | 第18-20页 |
| 2.3.1 骨架材料的制备 | 第18-19页 |
| 2.3.2 接枝MIPs的制备 | 第19-20页 |
| 2.4 结果与讨论 | 第20-30页 |
| 2.4.1 整体柱制备参数的研究 | 第20-27页 |
| 2.4.2 整体柱色谱参数的研究 | 第27-30页 |
| 2.5 小结 | 第30-31页 |
| 三、组合模板单体和液晶单体的分子印迹整体柱的制备及评价 | 第31-45页 |
| 3.1 引言 | 第31-33页 |
| 3.2 试剂与仪器 | 第33-34页 |
| 3.2.1 仪器 | 第33页 |
| 3.2.2 试剂 | 第33-34页 |
| 3.3 整体柱的制备方法 | 第34-35页 |
| 3.3.1 骨架材料的制备 | 第34-35页 |
| 3.3.2 接枝MIPs的制备 | 第35页 |
| 3.4 结果与讨论 | 第35-44页 |
| 3.4.1 整体柱制备参数的研究 | 第35-38页 |
| 3.4.2 整体柱色谱参数的研究 | 第38-39页 |
| 3.4.3 印迹整体柱的表征 | 第39-44页 |
| 3.5 小结 | 第44-45页 |
| 结论 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-52页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第52-54页 |
| 综述 分子印迹技术在手性识别中的应用 | 第54-77页 |
| 综述参考文献 | 第70-77页 |
| 致谢 | 第77页 |