摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
第1章 绪论 | 第7-12页 |
1.1 选题背景 | 第7页 |
1.2 三坐标测量技术简介 | 第7-9页 |
1.2.1 三坐标定义 | 第7-8页 |
1.2.2 CMM的特点 | 第8-9页 |
1.2.3 CMM分类 | 第9页 |
1.2.4 三坐标的使用环境 | 第9页 |
1.3 三坐标测量机的国内外发展现状综述 | 第9-10页 |
1.3.1 国外发展现状综述 | 第9-10页 |
1.3.2 国内发展现状综述 | 第10页 |
1.4 本论文研究的内容与意义 | 第10-12页 |
1.4.1 本论文研究的内容 | 第10-11页 |
1.4.2 本论文的意义 | 第11-12页 |
第2章 三坐标测量机工作机理分析 | 第12-25页 |
2.1 三坐标实验室 | 第12页 |
2.2 三坐标测量机 | 第12-21页 |
2.2.1 三坐标测量方法分析 | 第12-14页 |
2.2.2 三坐标测量机的维护 | 第14-19页 |
2.2.3 提高测量精度的方法 | 第19-20页 |
2.2.4 测量机常见异常问题的处理 | 第20-21页 |
2.3 三坐标测量软件 | 第21-24页 |
2.3.1 PC-DMIS概况 | 第21-22页 |
2.3.2 编程步骤剖析 | 第22-24页 |
2.4 本章小结 | 第24-25页 |
第3章 三坐标测量机在工件检测中的应用 | 第25-33页 |
3.1 三坐标测量机的应用 | 第25-26页 |
3.2 三坐标测量机对专用检具检测的应用举例 | 第26-28页 |
3.2.1 检测检具的准备工作 | 第26页 |
3.2.2 CMM检定专用检具实例 | 第26-27页 |
3.2.3 检具检定编程方法 | 第27页 |
3.2.4 检具检定优化结果 | 第27-28页 |
3.3 三坐标测量机对A4后轴检测的应用举例 | 第28-32页 |
3.3.1 A4后轴检测存在的问题分析 | 第28页 |
3.3.2 CMM检测A4后轴实例 | 第28-32页 |
3.4 本章小结 | 第32-33页 |
第4章 三坐标测量机在产品质量控制中的应用 | 第33-46页 |
4.1 三坐标测量机在产品质量控制中的调试 | 第33-41页 |
4.1.1 调试过程简述 | 第33页 |
4.1.2 分总成的调试过程 | 第33-37页 |
4.1.3 总成产品的调整过程 | 第37-41页 |
4.2 基于SPC的三坐标测量机在产品质量控制中的质量评价及分析 | 第41-43页 |
4.2.1 SPC概念 | 第41页 |
4.2.2 SPC的发展史 | 第41-42页 |
4.2.3 SPC技术原理及控制图 | 第42页 |
4.2.4 产品质量评价及分析 | 第42-43页 |
4.3 三坐标测量机软件编程 | 第43-45页 |
4.3.1 程序建立 | 第43-44页 |
4.3.2 测量程序自动运行的步骤 | 第44-45页 |
4.4 本章小结 | 第45-46页 |
第5章 总结与展望 | 第46-48页 |
5.1 本文工作总结 | 第46页 |
5.2 未来工作展望 | 第46-48页 |
致谢 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-52页 |
作者简介 | 第52页 |
攻读硕士学位期间研究成果 | 第52页 |