| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 静态存储器故障模型研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 存储器直接测试法 | 第11页 |
| 1.2.3 扫描路径法 | 第11-12页 |
| 1.2.4 边界扫描法 | 第12页 |
| 1.2.5 存储器内建自测试法 | 第12-13页 |
| 1.3 研究内容 | 第13-14页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第13-14页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第14页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第14-15页 |
| 第二章 存储器内建自测试技术 | 第15-27页 |
| 2.1 三单元耦合故障 | 第15-22页 |
| 2.1.1 存储器故障分类 | 第15-17页 |
| 2.1.2 三单元耦合故障原理 | 第17-18页 |
| 2.1.3 三单元耦合故障模型 | 第18-22页 |
| 2.2 存储器内建自测试原理 | 第22-25页 |
| 2.2.1 RAM内建自测试 | 第22-24页 |
| 2.2.2 ROM内建自测试 | 第24-25页 |
| 2.3 小结 | 第25-27页 |
| 第三章 存储器内建自测试算法March 3C | 第27-37页 |
| 3.1 存储器内建自测试算法基本原理 | 第27-30页 |
| 3.1.1 伪随机测试算法 | 第28-29页 |
| 3.1.2 确定性测试算法 | 第29-30页 |
| 3.2 存储器内建自测试算法March 3C的设计方案 | 第30-31页 |
| 3.3 存储器内建自测试算法设计要求 | 第31-36页 |
| 3.4 算法March 3C的设计难度和问题分析 | 第36页 |
| 3.5 小结 | 第36-37页 |
| 第四章 算法March 3C设计 | 第37-49页 |
| 4.1 地址生成设计 | 第37-39页 |
| 4.2 背景数据初始化设计 | 第39-41页 |
| 4.2.1 初始化步骤I_1和I_3 | 第40-41页 |
| 4.2.2 初始化步骤I_2和I_4 | 第41页 |
| 4.3 敏化操作设计 | 第41-47页 |
| 4.4 观测操作 | 第47-48页 |
| 4.5 算法March 3C算法 | 第48页 |
| 4.6 小结 | 第48-49页 |
| 第五章 算法仿真结果 | 第49-61页 |
| 5.1 存储器库文件模型 | 第49-50页 |
| 5.2 算法的可行性验证 | 第50-54页 |
| 5.2.1 仿真波形描述 | 第51-53页 |
| 5.2.2 算法March 3C可行性仿真结果 | 第53-54页 |
| 5.3 算法的有效性验证 | 第54-56页 |
| 5.4 芯片版图 | 第56-57页 |
| 5.5 算法后仿真结果 | 第57-59页 |
| 5.6 仿真结果对比分析 | 第59-60页 |
| 5.7 小结 | 第60-61页 |
| 第六章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 6.1 总结 | 第61页 |
| 6.2 展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表论文 | 第69页 |