居里温度小于奈耳温度的铁磁/反铁磁薄膜的磁性研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第13-24页 |
| 1.1 引言 | 第13页 |
| 1.2 交换偏置 | 第13-14页 |
| 1.3 交换偏置的几种经典模型 | 第14-19页 |
| 1.3.1 Meiklejohn-Bean模型 | 第14-16页 |
| 1.3.2 平行界面的反铁磁畴壁模型 | 第16页 |
| 1.3.3 随机场模型 | 第16-17页 |
| 1.3.4 Spin-flop垂直界面耦合 | 第17-18页 |
| 1.3.5 未补偿界面AFM自旋 | 第18-19页 |
| 1.4 影响交换偏置的主要因素 | 第19-22页 |
| 1.4.1 FM层厚度 | 第19页 |
| 1.4.2 AFM层厚度 | 第19-20页 |
| 1.4.3 FM/AFM的界面粗糙度和晶粒尺寸 | 第20页 |
| 1.4.4 AFM层的晶格取向 | 第20-21页 |
| 1.4.5 冷却场的大小 | 第21页 |
| 1.4.6 测量温度 | 第21-22页 |
| 1.5 本文研究的主要内容及意义 | 第22-24页 |
| 2 样品的制备与物性测试 | 第24-31页 |
| 2.1 薄膜样品的制备 | 第24-26页 |
| 2.1.1 基片的准备与洗涤 | 第24页 |
| 2.1.2 磁控溅射法 | 第24-26页 |
| 2.2 薄膜厚度的测量 | 第26页 |
| 2.2.1 α台阶仪法 | 第26页 |
| 2.2.2 扫描电子显微镜法 | 第26页 |
| 2.3 薄膜结构的表征 | 第26-29页 |
| 2.3.1 X射线衍射 | 第27页 |
| 2.3.2 扫描电子显微镜 | 第27-28页 |
| 2.3.3 X射线反射 | 第28-29页 |
| 2.4 薄膜磁性的测量 | 第29-30页 |
| 2.4.1 多功能振动样品磁强计 | 第29页 |
| 2.4.2 磁性测量系统 | 第29-30页 |
| 2.5 实验内容 | 第30-31页 |
| 3 Tb/Cr多层膜的磁性研究 | 第31-38页 |
| 3.1 引言 | 第31-32页 |
| 3.2 实验方法 | 第32-33页 |
| 3.3 [Tb/Cr]_8多层膜微观结构和磁性 | 第33-37页 |
| 3.3.1 多层膜微观结构分析 | 第33页 |
| 3.3.2 多层膜的磁性分析 | 第33-37页 |
| 3.4 小结 | 第37-38页 |
| 4 Gd/FeMn双层膜交换偏置的研究 | 第38-46页 |
| 4.1 引言 | 第38页 |
| 4.2 实验方法 | 第38-39页 |
| 4.3 Gd/FeMn双层膜的微观结构和磁性 | 第39-45页 |
| 4.3.1 微观结构分析 | 第39-40页 |
| 4.3.2 Gd/FeMn双层膜的磁性分析 | 第40-45页 |
| 4.4 小结 | 第45-46页 |
| 5 Gd/Cr多层膜交换偏置的研究 | 第46-57页 |
| 5.1 引言 | 第46页 |
| 5.2 实验方法 | 第46-47页 |
| 5.3 [Gd/Cr]_5多层膜的微观结构和磁性 | 第47-56页 |
| 5.3.1 微观结构分析 | 第47-48页 |
| 5.3.2 [Gd/Cr]_5多层膜的磁性分析 | 第48-56页 |
| 5.4 小结 | 第56-57页 |
| 6 结论与展望 | 第57-59页 |
| 6.1 研究总结 | 第57-58页 |
| 6.2 需进一步研究的问题 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-66页 |
| 作者简历 | 第66页 |
