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CFETR屏蔽包层结构设计与分析

摘要第1-7页
ABSTRACT第7-11页
第1章 绪论第11-14页
   ·选题背景第11页
   ·屏蔽包层国内外研究现状第11-13页
   ·本文的研究内容和意义第13-14页
第2章 CFETR屏蔽包层设计方案第14-19页
   ·等离子体位形与真空室结构第14-16页
   ·CFETR屏蔽包层设计方案第16-18页
     ·增殖区域屏蔽包层设计方案第16-17页
     ·偏滤器区域屏蔽包层设计方案第17-18页
   ·小结第18-19页
第3章 CFETR屏蔽包层材料选择第19-34页
   ·316L(N)-IG的性能及其中子屏蔽能力第21-26页
     ·316L(N)-IG的物理性能和机械性能第21-22页
     ·316L(N)-IG的耐腐蚀性能第22-23页
     ·不锈钢316L(N)-IG的抗辐照性能第23-24页
     ·316L(N)-IG的中子屏蔽能力第24-26页
   ·F82H的性能及其中子屏蔽能力第26-30页
     ·F82H的物理性能和机械性能第26-28页
     ·F82H的耐腐蚀性能第28页
     ·F82H的抗辐照性能第28-29页
     ·F82H的中子屏蔽能力第29-30页
   ·WC的性能及其中子屏蔽能力第30-32页
   ·小结第32-34页
第4章 CFETR屏蔽包层冷却系统设计和分析第34-59页
   ·屏蔽包层的热载荷来源第34-35页
   ·屏蔽包层核热计算第35-36页
   ·有限元方法第36-37页
   ·增殖区域屏蔽包层冷却结构设计和分析第37-53页
     ·方案一第37-43页
     ·方案二第43-48页
     ·方案三第48-53页
   ·偏滤器区域屏蔽包层冷却结构设计和分析第53-58页
     ·结构设计第53-54页
     ·结构分析第54-58页
   ·小结第58-59页
第5章 CFETR屏蔽包层电磁分析第59-69页
   ·等离子体破裂事件(Plasma Disruption)第59-60页
   ·MDE屏蔽包层的电磁分析第60-68页
     ·线性衰减第62-65页
     ·指数哀减第65-68页
   ·小结第68-69页
第6章 总结与展望第69-70页
参考文献第70-73页
致谢第73-74页
在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果第74页

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