一种基于低频补偿的脉冲大电流测试方法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·论文研究背景与意义 | 第10-11页 |
| ·电磁发射技术概述 | 第11-13页 |
| ·脉冲功率源技术概述 | 第13-14页 |
| ·Rogowski线圈研究现状与发展趋势 | 第14-15页 |
| ·论文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 2 脉冲电流及其测试方法 | 第17-31页 |
| ·脉冲功率源组成部分 | 第17-18页 |
| ·脉冲电流特征分析 | 第18-25页 |
| ·电容储能式脉冲功率源放电回路 | 第18-19页 |
| ·R-L-C放电回路 | 第19-22页 |
| ·R-L放电回路 | 第22-24页 |
| ·Simulink放电回路仿真 | 第24-25页 |
| ·脉冲大电流测试方法 | 第25-29页 |
| ·分流器法 | 第25-26页 |
| ·光学电流传感器法 | 第26-27页 |
| ·霍尔效应测试法 | 第27-28页 |
| ·罗果夫斯基线圈法 | 第28-29页 |
| ·电流传感器的性能比较 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 3 Rogowski线圈电流传感器 | 第31-50页 |
| ·Rogowski线圈测试原理 | 第31-32页 |
| ·两种不同截面骨架的Rogowski线圈 | 第32-34页 |
| ·矩形截面线圈 | 第32-33页 |
| ·圆形截面线圈 | 第33-34页 |
| ·骨架材料 | 第34页 |
| ·Rogowski线圈结构参数的对性能的影响分析 | 第34-39页 |
| ·罗氏线圈等效电路模型分析 | 第34-36页 |
| ·罗氏线圈结构参数对线圈动态性能的影响 | 第36-37页 |
| ·结构参数对线圈内阻的影响 | 第37-38页 |
| ·传感头设计步骤 | 第38-39页 |
| ·Rogowski线圈的两种工作状态 | 第39-41页 |
| ·自积分式罗氏线圈 | 第39-40页 |
| ·外积分式罗氏线圈 | 第40-41页 |
| ·积分电路 | 第41-45页 |
| ·积分电路设计要求 | 第41页 |
| ·电路的设计和分析 | 第41-45页 |
| ·积分电路分析 | 第45-49页 |
| ·仿真软件简介 | 第45页 |
| ·仿真模型 | 第45-46页 |
| ·积分电路频域分析 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 4 霍尔电流传感器 | 第50-58页 |
| ·霍尔元件工作原理及基本特性 | 第50-53页 |
| ·霍尔效应 | 第50-51页 |
| ·霍尔元件基本特性 | 第51-52页 |
| ·驱动方式 | 第52-53页 |
| ·霍尔电流传感器 | 第53-56页 |
| ·开环霍尔传感器 | 第53-55页 |
| ·闭环霍尔传感器 | 第55-56页 |
| ·误差补偿 | 第56-57页 |
| ·不等电位补偿 | 第56页 |
| ·温度补偿 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 5 实验与分析 | 第58-72页 |
| ·线圈小电阻的精确测量 | 第58-59页 |
| ·万用表测量电阻原理 | 第58页 |
| ·四线测量法 | 第58-59页 |
| ·线圈分布电容测量 | 第59-60页 |
| ·脉冲大电流测试实验 | 第60-63页 |
| ·实验装置 | 第60-61页 |
| ·标定 | 第61-63页 |
| ·数据分析 | 第63-66页 |
| ·选择测试方法 | 第63-64页 |
| ·仿真波形 | 第64-66页 |
| ·波形补偿 | 第66-71页 |
| ·频域补偿 | 第66-69页 |
| ·时域补偿 | 第69页 |
| ·结果分析 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 6 总结与展望 | 第72-74页 |
| ·全文总结 | 第72页 |
| ·不足与展望 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
