基于FPGA的扫描控制器仿真与设计
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-15页 |
| ·边界扫描技术的研究背景 | 第8-10页 |
| ·边界扫描技术在国内外研究现状 | 第10-13页 |
| ·课题研究的主要内容 | 第13-15页 |
| 第二章 可测性设计方法 | 第15-20页 |
| ·可测性设计技术概述 | 第15-16页 |
| ·可测性设计的基本技术问题 | 第16-18页 |
| ·可测性建模技术 | 第16-17页 |
| ·可测性的度量和评估 | 第17-18页 |
| ·可测性设计的主要方法 | 第18-19页 |
| ·内建自测试方法 | 第18页 |
| ·IDDQ 测试 | 第18页 |
| ·边界扫描测试方法 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 边界扫描法的整体设计方案 | 第20-31页 |
| ·边界扫描的基本结构 | 第20-22页 |
| ·测试存取通道 | 第22-24页 |
| ·TAP 控制器 | 第24-26页 |
| ·测试数据寄存器 | 第26-28页 |
| ·指令寄存器 | 第28-29页 |
| ·边界扫描指令 | 第29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第四章 边界扫描电路的设计 | 第31-46页 |
| ·FPGA 开发平台 | 第31页 |
| ·FPGA 开发语言及环境 | 第31-32页 |
| ·边界扫描控制器的具体设计 | 第32-45页 |
| ·时序逻辑模块设计 | 第32-35页 |
| ·寄存器设置 | 第35-37页 |
| ·TAP 控制器的设计 | 第37-40页 |
| ·边界扫描单元设计 | 第40-41页 |
| ·TDI 缓存模块设计 | 第41-44页 |
| ·TDO 缓存模块设计 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 边界扫描控制器仿真结果的验证 | 第46-61页 |
| ·被测电路的选取 | 第46-48页 |
| ·测试电路模块仿真结果分析 | 第48-52页 |
| ·FIFO 模块 | 第48-50页 |
| ·扫描单元 | 第50-51页 |
| ·TAP 控制器模块 | 第51-52页 |
| ·故障诊断过程 | 第52-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 攻读学位期间发表论文 | 第69页 |
| 攻读学位期间科研项目 | 第69页 |
