先进数字工艺下模数转换器低功耗设计技术
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-22页 |
| ·模数转换器发展趋势 | 第12-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·传统模拟电路在先进数字工艺下的困境 | 第16-18页 |
| ·论文的研究内容和创新点 | 第18-20页 |
| ·论文的各部分结构 | 第20-22页 |
| 第2章 快闪型模数转换器的理论基础和分析 | 第22-34页 |
| ·快闪型模数转换器的结构 | 第22-24页 |
| ·非理想因素分析 | 第24-29页 |
| ·采样时钟不确定性 | 第24-25页 |
| ·失配误差 | 第25-28页 |
| ·亚稳态和气泡现象 | 第28-29页 |
| ·低功耗设计方法 | 第29-32页 |
| ·非线性双插值 | 第29-31页 |
| ·数字动态比较器 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-34页 |
| 第3章 快闪型模数转换器低功耗设计技术 | 第34-58页 |
| ·一次性时间域比较器 | 第34-41页 |
| ·原理及实现 | 第34-36页 |
| ·理论分析 | 第36-38页 |
| ·设计原型 | 第38-41页 |
| ·数字前台校正 | 第41-48页 |
| ·工作原理 | 第41-42页 |
| ·算法实现 | 第42-44页 |
| ·设计原型 | 第44-48页 |
| ·电阻平均 | 第48-55页 |
| ·工作原理 | 第48-49页 |
| ·设计原型 | 第49-50页 |
| ·仿真结果 | 第50页 |
| ·测试方案 | 第50-52页 |
| ·静态性能测试 | 第52-53页 |
| ·动态性能测试 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-58页 |
| 第4章 逐次逼近型模数转换器的理论基础和分析 | 第58-74页 |
| ·逐次逼近型模数转换器的结构 | 第58-60页 |
| ·非理想因素分析 | 第60-67页 |
| ·电容失配误差 | 第60-63页 |
| ·比较器阈值偏移 | 第63-65页 |
| ·动态稳定误差 | 第65-67页 |
| ·低功耗设计方法 | 第67-72页 |
| ·单端时间域比较器 | 第67-69页 |
| ·极小单位电容阵列 | 第69-70页 |
| ·三步电容切换 | 第70-71页 |
| ·高效异步逻辑控制 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 第5章 逐次逼近型模数转换器低功耗设计技术 | 第74-108页 |
| ·差分时间域比较器 | 第74-85页 |
| ·原理及实现 | 第74-76页 |
| ·理论分析 | 第76-77页 |
| ·原型设计 | 第77-80页 |
| ·测试方案 | 第80-82页 |
| ·静态性能测试 | 第82-83页 |
| ·动态性能测试 | 第83-85页 |
| ·分离电容阵列切换技术 | 第85-96页 |
| ·原理及实现 | 第85-87页 |
| ·理论分析 | 第87-88页 |
| ·原型设计 | 第88-96页 |
| ·分离电容阵列切换技术改进型 | 第96-106页 |
| ·原理及实现 | 第96-98页 |
| ·理论分析 | 第98-100页 |
| ·原型设计 | 第100-102页 |
| ·测试方案 | 第102-104页 |
| ·静态性能测试 | 第104页 |
| ·动态性能测试 | 第104-106页 |
| ·本章小结 | 第106-108页 |
| 结论 | 第108-112页 |
| 参考文献 | 第112-122页 |
| 攻读博士学位期间所发表的学术论文 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124页 |
