频谱分析仪中YTO控制模块设计与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 引言 | 第11-15页 |
| ·项目背景 | 第11页 |
| ·YTO 控制模块的研究意义 | 第11-12页 |
| ·相关技术研究现状 | 第12-14页 |
| ·YTO 器件研究现状 | 第12-13页 |
| ·YTO 控制研究现状 | 第13-14页 |
| ·论文的主要内容 | 第14-15页 |
| 第二章 YTO 本振控制理论与方案设计 | 第15-29页 |
| ·频谱分析仪简介 | 第15-18页 |
| ·频谱分析仪分类 | 第15-17页 |
| ·频谱分析仪中扫频本振相关参数 | 第17-18页 |
| ·频谱分析仪中扫频本振发展 | 第18-20页 |
| ·YTO 锁相环扫频本振 | 第20-26页 |
| ·YTO 工作特性分析 | 第20-23页 |
| ·YTO 锁相环电路 | 第23-25页 |
| ·YTO 锁相环扫频本振工作原理 | 第25-26页 |
| ·YTO 控制模块总体目标与方案设计 | 第26-28页 |
| ·YTO 控制模块设计目标 | 第26-27页 |
| ·YTO 控制模块设计方案 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 YTO 本振快速频率跳变控制模块设计 | 第29-44页 |
| ·YTO 本振频率跳变时间 | 第29-30页 |
| ·YTO 调谐线圈等效电感对预置时间影响解决方案 | 第30-33页 |
| ·预置电压加扰动工作原理 | 第31页 |
| ·预置电压加扰动测试 | 第31-33页 |
| ·YTO 调谐端滤波大电容对预置时间影响解决方案 | 第33-42页 |
| ·开关控制调谐端大电容工作原理 | 第33-34页 |
| ·无反馈开关控制电路设计及测试 | 第34-37页 |
| ·带反馈开关控制电路设计及测试 | 第37-42页 |
| ·测试实验平台 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 YTO 本振扫描非线性补偿控制模块设计 | 第44-60页 |
| ·YTO 本振扫描非线性补偿总体方案设计 | 第44-46页 |
| ·扫描非线性数据获取方案 | 第44-45页 |
| ·扫描非线性补偿基本原理 | 第45页 |
| ·扫描非线性补偿方案设计 | 第45-46页 |
| ·YTO 本振扫描非线性补偿设计平台 | 第46-47页 |
| ·不同扫描速度下补偿设计实现 | 第47-52页 |
| ·不同扫描速度下频率偏移特性 | 第47-51页 |
| ·不同扫描速度下补偿实现 | 第51-52页 |
| ·不同起始扫描频率下补偿设计实现 | 第52-55页 |
| ·不同起始扫描频率下频率偏移特性 | 第52-53页 |
| ·不同起始扫描频率下补偿实现 | 第53-55页 |
| ·不同扫描步进下补偿设计实现 | 第55-57页 |
| ·不同扫描步进下频率偏移特性 | 第55-56页 |
| ·不同扫描步进下补偿实现 | 第56-57页 |
| ·YTO 本振扫描非线性整体补偿设计实现 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 YTO 本振分波段扫描控制模块设计 | 第60-76页 |
| ·YTO 本振分波段扫描原理及控制方案设计 | 第60-65页 |
| ·分波段扫描工作原理 | 第61-62页 |
| ·分波段扫描主要控制参数 | 第62-63页 |
| ·分波段扫描过程控制方案设计 | 第63-65页 |
| ·YTO 本振分波段扫描模块设计及仿真 | 第65-69页 |
| ·时钟分频模块 | 第66页 |
| ·数据接收模块 | 第66页 |
| ·扫描中断产生模块 | 第66-67页 |
| ·分波段扫描状态转移模块 | 第67-68页 |
| ·频率预置和分频比累加模块 | 第68-69页 |
| ·YTO 本振分波段扫描测试与结果分析 | 第69-75页 |
| ·实验平台介绍及测试控制过程 | 第69-70页 |
| ·测试结果与分析 | 第70-75页 |
| ·设计实现过程中遇到的主要问题及解决办法 | 第75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 攻读硕士研究生期间取得的成果 | 第81-82页 |
