连续源真随机数发生器研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 前言 | 第10-16页 |
| 第一章 真随机数的背景与应用 | 第16-34页 |
| ·随机数的定义与特征 | 第16-17页 |
| ·真、伪随机数序列的产生与特征 | 第17-19页 |
| ·随机性的统计度量与检验 | 第19-25页 |
| ·随机性的统计度量 | 第20-23页 |
| ·随机性的统计检验 | 第23-25页 |
| ·国内外真随机数领域研究进展综述 | 第25-32页 |
| ·基于离散型随机源产生真随机数序列 | 第26-29页 |
| ·基于连续型随机源产生真随机数序列 | 第29-32页 |
| 小结 | 第32-34页 |
| 第二章 真随机数发生器设计步骤 | 第34-64页 |
| ·量子随机源的选择与理论分析 | 第34-45页 |
| ·离散型量子随机源 | 第34-36页 |
| ·连续型量子随机源 | 第36-45页 |
| ·初始随机数序列的采样与预处理 | 第45-54页 |
| ·主要采样手段 | 第45-48页 |
| ·信号采样速率 | 第48-49页 |
| ·信号采样精度 | 第49-52页 |
| ·异或(XOR)预处理 | 第52-54页 |
| ·后处理方法与最终真随机数序列的生成 | 第54-57页 |
| ·简单后处理方法 | 第54-56页 |
| ·复杂后处理方法 | 第56-57页 |
| ·特殊后处理方法 | 第57页 |
| ·随机性的统计检验 | 第57-62页 |
| ·随机数序列标准统计检验包 | 第58页 |
| ·三倍标准差检验与真随机数序列的长度 | 第58-62页 |
| ·特殊的随机性检验方法 | 第62页 |
| 小结 | 第62-64页 |
| 第三章 基VCSEL的真随机数发生器设计 | 第64-84页 |
| ·背景介绍 | 第64-65页 |
| ·基于相位噪声的真随机数发生器 | 第65-75页 |
| ·噪声源理论分析与实验设计 | 第65-68页 |
| ·采样速率与XOR预处理 | 第68-70页 |
| ·基于Shannon熵的数据后处理 | 第70-72页 |
| ·随机性检验与实验结果分析 | 第72-75页 |
| ·基于偏振模式分配噪声的真随机数发生器 | 第75-82页 |
| ·噪声源理论分析与实验设计 | 第75-76页 |
| ·过采样方案与直接后处理 | 第76-79页 |
| ·随机性检验与实验结果分析 | 第79-82页 |
| 小结 | 第82-84页 |
| 第四章 基SLED的真随机数发生器设计 | 第84-98页 |
| ·背景介绍 | 第84-85页 |
| ·基于放大自发辐射噪声的真随机数发生器 | 第85-96页 |
| ·噪声源理论分析与实验设计 | 第85-88页 |
| ·低速采样与简单后处理 | 第88-90页 |
| ·高速采样与复杂后处理 | 第90-93页 |
| ·随机性检验与实验结果分析 | 第93-96页 |
| 小结 | 第96-98页 |
| 第五章 后处理方法评价与随机性度量 | 第98-110页 |
| ·研究背景 | 第98-99页 |
| ·两种后处理方法评价指标 | 第99-105页 |
| ·高阶做差后处理方法 | 第100-102页 |
| ·基于最小熵评价后处理方法 | 第102-104页 |
| ·基于Kolmogorov复杂度评价后处理方法 | 第104-105页 |
| ·随机性度量的研究 | 第105-108页 |
| ·真随机性度量的物理研究 | 第105-107页 |
| ·真随机性度量的统计研究 | 第107-108页 |
| 小结 | 第108-110页 |
| 总结与展望 | 第110-112页 |
| 参考文献 | 第112-122页 |
| 公开发表论文目录 | 第122-124页 |
| 致谢 | 第124-125页 |
